Congreso

Universidad Católica Santa María
Facultad de Ciencias e Ingenierías Físicas y Formales
Programa Profesional de Ingeniería Electrónica


Asignatura:
Control Automático IV
Tema :
Resumen del Congreso

Alumno:
HECTOR CUTIPA NOA

Año: 2014


"CARACTERIZACION DE SUBSTRATOS EN ALTA FRECUENCIA PARA IMPLEMENTACION DE DISPOSTIVOS DE TELECOMUNICACIONES EN EL RANGO DEMICROONDAS"
Dr. Guillermo Rafael Valdivia.
Una de las tecnologías mas usadas en la Microstrip, la cual es aquella tecnología de producir circuitos electrónicos utilizando circuitos impresos, dentro de sus aplicaciones podemos hacer antenas, filtros, mezcladores , etc.

Como se explico, la laborde un ingeniero es poder realizar estos circuitos, pero la labor de la empresa es proveerlos al mercado, pero para ello necesita abaratar costos, cabe señalar también que cada substrato es diferente, no es igual, como por ejemplo el amplificador Doherty, que utiliza cierto tipo de substrato y es usado actualmente, pero para verificar que no haya errores en el substrato se siguen cierto pasos , comoel método usado en Francia:
Antes de diseñar: medir (Er, tand) del substrato.
Proceso conocido como caracterización.
Medida de parámetros de Scattering en alta frecuencia: parámetro S21 vs. Frecuencia.
Equipo requerido: Analizador Vectorial de Redes (VNA): 2port.
Métodos conocidos para caracterización: - Medidas de S21: uso de VNA: problema: costo.- Medidas de capacidad: C=f(Er, espesor):baja frecuencia.
Sin embargo; existen también métodos de simulación : -CAD: modelos eléctricos
-CAD: modelos electromagnéticos
Luego se explico también un programa que se puede utilizar para elaborar una pista impresa através de un programa TXLINE 2001- Microstrip, el cual era un programa diseñado exclusivamente , como por ejemplo usar fibra de vidrio o u otro material., en se programa se podía poner parámetros como: frecuencia , impedancia, longitud eléctrica entre otros parámetros. ya claro obviamente obtener una simulación de la misma.






Se explico también el método propuestoque nos permite medir reflexiones de un circuito que tiene la forma de T que es un resonador, el cual tiene ciertas ventajas:

No se necesita adquirir un VNA. Únicamente se realizan medidas de potencia en una sola via de acceso.
solución más simple.
Solución más económica.
Medida en alta frecuencia: precisión
Material usado: componentes de nuestro medio.
Diseño de resonador:

-Uso de teoríade líneas de transmisión.
-Uso de substrato comercial: FR4
-Cálculo de dimensiones de línea.
-Implementación del circuito: (serigrafía, quemado, barnizado, etc)

Objetivo:
-Medir potencia incidente y reflejada en banda ancha ubicando frecuencia central y picos de resonancia.

Equipos a utilizar:

-Generador de señales de alta frecuencia
-Acoplador direccional
-Analizador de espectros-Power meter, cables y atenuadores

EXPERIMENTACION
Para los calculos de return loss, se usa : Potencia incidente medida con Power Meter y Potencia reflejada medida con Analizador de Espectros.
Para el valor teorico de return Loss : Por otro lado, usando CAD: Microwave Office ,Agilent Design System



Simulaciónen Microwave Office
Conclusiones
Este primer paso en caracterización puede aplicarse en diferentes tipos de substratos, se esta trabajando en la implementación de un amplificador de alta frecuencia para estaciones base utilizando nuestros resultados para validar una vez mas el método propuesto.

Este prototipo constituye una herramienta para poder brindar servicio de consultoría o peritaje de...