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Juan Luis González
10-009/ Secc. 01
Alfred Binet

Alfred Binet,”Padre de los Test de inteligencia” fue un Psicólogo Francés, nacido en Niza un 8 de Julio de 1857 y fallecido París un 18 deoctubre de 1911, hijo de una artista y de un medico. Siendo Alfred muy joven estos se separaron, y el se traslado con su madre a Paris donde vivió el resto de su vida. Recibió su titulo de abogado en1878, posteriormente estudió ciencias naturales en la prestigiosa Universidad de la Sorbona, y algo muy peculiar fue que fue un autodidacta en Psicología, es decir, estudió por su cuenta la Psicología.Una de sus principales colaboraciones fue “La escala Binet-Simon”, la cual se remonta al 1891, año en el cual Binet empezó a trabajar en el Laboratorio de la Universidad de la Sorbona de PsicologíaExperimental y fue nombrado su director en 1894. En ese mismo año, fue co-fundador de L'Année Psychologique, una revista de psicología. Al tiempo que dirigía el Laboratorio, Theodore Simon fuemandado para hacer la investigación doctoral bajo la supervisión de Binet. Este fue el comienzo de su larga y fructífera colaboración.

En 1904, fue llamado por el gobierno francés para designar unprograma sobre la educación de los niños retrasados. A tal programa dirigido por una comisión se le pedio que creara un mecanismo que identificar a los estudiantes con necesidad de educación alternativa(niños con déficit de aprendizaje o con algún tipo de retraso mental). Binet, siendo un miembro activo de este grupo, encontró el impulso para el desarrollo de su escala mental.

Binet y Simon,trabajaron en la creación de lo que históricamente se conoce como la escala de Binet-Simon, compuesto por una variedad de tareas que pensaban que eran representativas de las habilidades típicas de niños dediversas edades. Este proceso de la tarea de selección se basó en sus muchos años de observación de los niños en sus entornos naturales. Luego probaron su medición en una muestra de cincuenta niños,...