El Metodo Z-Scan

El método de Z-Scan (Barrido en Z), permite medir las propiedades ópticas no lineales como son el índice de refracción no lineal y la absorción no lineal de una manera simple y con una mínimacantidad de análisis.
Existen otras técnicas para medir la no linealidad como interferometría no lineal, mezcla de 4 ondas degenerativa , mezcla de 3 ondas degeneradas cercanamente, rotación elíptica,técnica de OKG (Optical Gate Kerr), técnica de limitadores ópticos (OPL) y mediciones de la distorsión del haz, sin embargo los 3 primeros métodos aunque presentan un gran potencial de sensibilidad tambiénrequieren de aparatos experimentales relativamente complejos, en comparación con la técnica de Z-Scan cuya base es la medición de distorsión de un haz y requiere de elementos ópticos sencillos.
Elmétodo se ha utilizado con buenos resultados para analizar propiedades ópticas en semiconductores, dieléctricos y vidrios, cristales líquidos, moléculas orgánicas o con base carbónica, cristales dopados,cristales.
Método
Consiste en una forma muy simple, que es utilizar un haz gaussiano con foco geométrico definido que se hace pasar a través de la muestra y se mide la trasmitancia del medio nolineal a través de una apertura finita en campo lejano como una función de la posición Z con respecto al plano focal.
Se comienza el barrido desde una distancia lejos del foco (Z negativa), así lairradiancia del haz es poca y ocurre una refracción no linear despreciable y la transmitancia permanece relativamente constante. Cuando la muestra se encuentra cerca del foco, la irradiancia del hazaunmenta permitiendo que la muestra actúe como una lente en sí misma.
Un autoenfocamiento negativo antes del foco tendera a colimar el haz causando que se dirija hacia la apertura cuya consecuencia es unaumento en la transmitancia. Como el barrido continua en Z y la muestra ha pasado por el foco hacia la derecha (Z positiva), el desenfocamiento continua incrementándose hasta ser de nuevo...