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Operación de Instrumentos de Medición.

Comprobación de componentes

Introducción
Para empezar a medir cualquier componente es necesario verificar cuales son las terminales, es decir: Base Bobinas Terminales 1, 2 o X número Colectores Emisores Compuertas, etc. Según sea el caso del componente.

COMO IDENTIFICAR Y MEDIR ALGUNOS COMPONENTES

Como se ve en la imágen superior FIG. 1 , elTester Digital está seleccionado para realizar mediciones de semiconductores ( simbolo del diodo ). Al colocar las Puntas de Prueba, POSITIVO en uno de los pines del TRANSISTOR y NEGATIVO en el otro extremo.....éste nos da un valor que es de . 5 4 6 , a continuación veremos la siguiente imágen :

Vemos que al mantener la Punta de Prueba Positiva en el mismo pin y colocamos la Punta de PruebaNegativa en el pin central FIG. 2, el instrumento nos da un valor distinto y menor que la medición anterior que es de . 4 7 4. Si nosotros invertimos las Puntas de Prueba y realizamos las mismas acciones anteriores, como se ve en las figuras siguientes :

Vemos que al colocar las Puntas de Prueba, NEGATIVO en uno de los pines del TRANSISTOR y POSITIVO en el otro extremo el instrumento nos da unvalor infinito FIG. 3, a continuación veremos la siguiente imágen :

Vemos que al mantener la Punta de Prueba Negativa en el mismo pin y colocamos la Punta de Prueba Positiva en el pin central, el instrumento nos sigue dando un valor infinito FIG. 4.

Los resultados de éstas pruebas nos están demostrando algo que es primordial, especialmente en la medición de un TRANSISTOR de Silicio Bipolary es la identificación individual de cada uno de los pines. La imágen que muestra la FIG. 1 y FIG. 2 tienen en común la Punta de Prueba POSITIVA, y recordando que las junturas de un TRANSISTOR tienen en común la BASE, ya tenemos identificado el primer pin. La FIG. 1 y FIG. 2 muestran que el instrumento da DOS valores diferentes al usar la Punta de Prueba NEGATIVA . En la FIG. 1 el valor essuperior al de la FIG. 2 y por norma natural de las junturas la BASE EMISOR es mayor FIG. 1 que la BASE COLECTOR FIG. 2, es decir que el TRANSISTOR es del tipo ( N-P-N ), la P es la base ROJO POSITIVO común y está polarizado directamente por el tester digital y para ambas junturas, una juntura N-P es la EMISOR-BASE y la otra juntura P-N es la BASE-COLECTOR. La FIG. 3 y la FIG. 4 nos muestran que al medircon polarización inversa las junturas del TRANSISTOR, éste se comporta como un aislante.

NOTA 1: El Tester Digital entrega en las Puntas de Prueba un voltaje suficiente para hacer trabajar y polarizar directamente las junturas del transistor; el voltaje es entregado por la batería interna y es un voltaje contínuo y no alterno. FIG. 1 BASE - EMISOR MAYOR que FIG. 2 BASE COLECTOR Para unTRANSISTOR P-N-P el proceso es inverso.

MEDIDA DE UN DIODO DE SILICIO

La FIG. 5 muestra las Puntas de Prueba midiendo la polarización directa de un Diodo de Silicio, en donde vemos que la Punta de Prueba POSITIVA está en el Ánodo y la Punta de Prueba NEGATIVA en el Cátodo, la juntura tine un valor similar a la juntura de un TRANSISTOR.

La FIG. 6 muestra las Puntas de Prueba midiendo lapolarización inversa de un Diodo de Silicio, en donde vemos que la Punta de Prueba POSITIVA está en el Cátodo y la Punta de Prueba NEGATIVA en el Ánodo, la juntura tine un valor infinito.

NOTA 2 : Cada Diodo sea de Germanio o de Silicio, presenta un valor diferente o similar pero la idea primordial es la de identificar las polaridades de éste ( Ánodo y Cátodo )

IDENTIFICAR Y MEDIR DAÑCOMPONENTES DAÑADOS O QUEMADOS

Sabemos ya como se mide un Diodo y un Transistor que están buenos, pero que pasa cuando están malos ?.?..?...... ántes que nada debemos tener las siguientes herramientas aparte del TESTER DIGITAL : La FIG. 7a corresponde a un extractor o removedor de Soldadura el cual trabaja succionando el aire y llevándose consigo al interior la Soldadura ya derretida por el calor...
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