Equipos de medida

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ESCUELA DE CIENCIAS BÁSICAS TECNOLOGÍA E INGENIERÍA.

Curso
Ingeniería Electrónica

Actividad 2: Reconocimiento del curso

Alumno
JOHN FREDY GALLON RIOS
c.c.18.512.527

Pereira 25 febrero de 2011

Curso
INSTRUMENTACION INDUSTRIAL

Grupo
208007-3

Tutor
CARLOS ALBERTO VERA ROMERO

INTRODUCCION

En este trabajo podemos conocer varios equipos de medidaalgunos de los cuales son usados en la casa o en el trabajo, varios de ellos son de uso especializado pero podemos encontrar información importante que nos puede ayudar a identificar la exactitud de las medidas, el alcance y varias características que nos pueden ayudar para sacar el mejor provecho de los equipos.

||
|Responda el siguiente Cuestionario: |
|1-¿Qué importancia tiene determinar en los instrumentos de medición, las características metrológicas empleadas en esta práctica? |
|R/ Podemosconocer a fondo los equipos y determinar su funcionalidad y aplicación para su utilización apropiada. |
|2-Cuál es la finalidad de conocer el alcance de medición, intervalo de medición, resolución y división mínima de cualquier instrumento de medición? |
|R/Saber los limites de los equipos y su capacidad nos da la seguridad de usar el apropiado en lamedida sin llegar a dañarlo, también tendremos la |
|información a la mano de la confiabilidad de los equipos y la exactitud de la medida. |
|3-Defina magnitud de influencia. |
|R/ Magnitud que en una medicióndirecta no afecta la magnitud que realmente se está midiendo, pero afecta la relación entre la indicación y el |
|resultado de medición |
|4-Durante un proceso de medición y considerando exclusivamente los instrumentos analógicos, ¿qué magnitudes de influenciapodría considerar como |
|fuentes de incertidumbre? Señale al menos 4. |
|R/ |
|4.1-conocimiento incompleto de los efectos de lascondiciones ambientales sobre la medición |
|4.2-lectura sesgada de instrumentos analógicos, por parte del personal técnico. |
|4.3-resolución finita del instrumento de medida o umbral de discriminación.|
|4.4-valores inexactos de los patrones de medida o de los materiales de referencia. |
|4.5-aproximaciones e hipótesis establecidas en el método/procedimiento de medida. |
|5-De todas las unidades de medida observadas en los instrumentos, indiquecuales son base y cuales son derivadas del SI. |
|R/ Base: kelvin-Amperio-Metro |
|Derivadas: Grados Celsius–Grados centígrados-Ohmio-DC-CA-ADC-ACA-Voltio-Milímetro. |
|...
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