Fundamentos sem icp

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Microscopio (SEM)

Electrónico

de

Barrido

El microscopio electrónico de barrido SEM- es el mejor método adaptado al estudio de la morfología de las superficies. A diferencia de un microscopio óptico que utiliza fotones del espectro visible, la imagen entregada por el SEM se genera por la interacción de un haz de electrones que "barre" un área determinada sobre la superficie de lamuestra. Construcción de un Electrónico de Barrido Microscopio

La parte principal de un microscopio electrónico de barrido es la denominada columna de electrones la cual lleva alojados en su interior los siguientes elementos: • Un cañón de electrones con un filamento que actúa como emisor o fuente de iluminación, por analogía con un sistema óptico. Un sistema de lentes electromagnéticas encargado defocalizar y reducir a un diámetro muy pequeño el haz de electrones producido por el filamento. Un sistema de barrido que hace recorrer el haz de electrones ya focalizado por la superficie de la muestra. Uno o varios sistemas de detección que permiten captar el resultado de la interacción del haz de electrones con la muestra y transformarlo en una señal eléctrica. Una salida conectada a una ovarias bombas que producen el vacío necesario para que el conjunto funcione adecuadamente. Por último, en el gráfico se han dibujado dos detectores. Uno, el de electrones secundarios, que son los electrones arrancados a la propia muestra por la acción del haz incidente. Con esta señal obtenemos en un monitor una imagen de la muestra, muy parecida a la visión del ojo humano debido a la gran profundidadde foco de esta señal. El otro detector, de rayos X, captura este tipo de señal, con la que obtenemos un espectro de elementos, es decir un análisis químico elemental de la muestra. La técnica esencialmente consiste en hacer incidir en la muestra un haz de electrones. Este bombardeo de electrones provoca la aparición de diferentes señales que, captadas con detectores adecuados, nos proporcionaninformación acerca de la naturaleza de la muestra La señal de electrones secundarios proporciona una imagen de la morfología superficial de la muestra. La señal de retrodispersados una imagen cualitativa de zonas con distinto número atómico medio, y la señal de rayos X espectros e imágenes acerca de la composición de elementos químicos en la muestra.









Además, el microscopioposee diversos sistemas que permiten observar las señales eléctricas procedentes de los detectores, en forma de imágenes en un monitor de TV, fotografía, espectro de elementos, etc.

Imagen de electrones secundarios

Electrones Secundarios La señal de electrones secundarios es la que se emplea normalmente para obtener una imagen de la muestra. Es la señal que nos proporciona una imagen más realde la superficie que estemos estudiando, se considera un electrón secundario aquel que emerge de la superficie de la muestra con una energía inferior a 50 eV(electronvoltios), y un electrón retrodispersado el que lo hace con una energía mayor. Electrones Retrodispersados La señal de electrones retrodispersados está compuesta por aquellos electrones que emergen de la muestra con una energíasuperior a 50 eV(electronvoltios). Estos electrones proceden en su mayoría del haz incidente que rebota en el material después de diferentes interacciones La intensidad de la señal de retrodispersados, para una energía dada del haz, depende del numero atómico del material (a mayor numero atómico mayor intensidad) Este hecho permite distinguir fases de un material de diferente composición química. Laszonas con menor Z se verán mas oscuras que las zonas que tienen mayor número atómico. Esta es la aplicación principal de la señal de retrodispersados.

Imagen de electrones retrodispersados.

Las micrografías anteriores corresponden a la misma zona de una soldadura de un objeto de cubertería compuesta de una aleación Plata-CobreNiquel. En la imagen de secundarios no se aprecian con claridad...
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