Meteorologista para no metrologos

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METROLOGÍA PARA NO-METRÓLOGOS
Segunda Edición

Rocío M. Marbán Julio A. Pellecer C.

2002

Para contactar a los autores dirigirse a: 2001 Producción y Servicios Incorporados S.A. Calzada Mateo Flores 5-55, Zona 3 de Mixco Guatemala, Centro América Tel.: (502)591-0662 Fax: (502)594-0692 email: psi2001@osint.net psi2001@itelgua.com

ISBN 99922-770-0-9 © OEA, 2002

Esta segunda ediciónrevisada es publicada con el patrocinio del SIM. El Sistema Interamericano de Metrología, Normalización, Acreditación y Calidad, SIM, es la organización regional de metrología para las Américas. Está conformado por los institutos nacionales de metrología de los 34 países miembros de la Organización de los Estados Americanos, OEA, la cual funge como su Secretaría Ejecutiva. Las opinionesexpresadas en este documento no son necesariamente opiniones de la OEA, de sus órganos o de sus funcionarios.

Metrología para no-metrólogos

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CONTENIDO
Agradecimientos Presentación Introducción Qué se mide y cómo Caracterización de la metrología Léxico Aplicaciones - Qué se mide y para qué Longitud Masa Temperatura Tiempo & frecuencia Electricidad & magnetismo Fotometría & radiometría Acústicay vibración Radiación ionizante Química Patrones y materiales de referencia Introducción Longitud Masa Temperatura Tiempo & frecuencia vii ix 1 11 20 21 29 29 30 31 32 33 35 36 36 37 39 39 41 47 55 65

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Metrología para no-metrólogos

Electricidad & magnetismo Fotometría & radiometría Acústica y vibración Radiación ionizante Química Referencias Anexo I Constantes físicas fundamentales ysu relación con las unidades básicas Anexo 2 Algunas unidades SI derivadas Anexo 3 Múltiplos y submúltiplos más comunes para uso con el SI Anexo 4 Científicos relacionados con la electricidad Anexo 5 Radionuclídeos – conceptos básicos

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AGRADECIMIENTOS
Muchas personas y entidades han colaborado para hacer posible esta publicación. Enprimer lugar, la Organización de los Estados Americanos, OEA, y la Cooperación Alemana para el Desarrollo, GTZ, que consideraron que un libro de este tipo podía resultar útil. Los autores desean agradecer la ayuda recibida del Bureau International des Poids et Mesures (BIPM); del Dr. Gérard Geneves del Laboratoire Central des Industries Eléctriques du Bureau National de Métrologie de Francia(BNM-LCIE); del Dr. Duncan Jarvis, Acoustical and Noise Standards, del National Physical Laboratory de Inglaterra (NPL, UK); del Dr. Hans-Jürgen von Martens, de la sección “Aceleración” del Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) de Alemania, del Ing. Lester Hernández de COGUANOR en Guatemala. Asimismo, el National Institute of Standards and Technology de los EUA, NIST, por intermedio del Dr. SteveCarpenter, Director de Asuntos Internacionales y Académicos, tuvo la gentileza de proporcionar ejemplares de sus publicaciones especializadas. Muy particularmente, desean destacar la excelencia científica del Centro Nacional de Metrología de

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Metrología para no-metrólogos

México (CENAM) y la contribución de su Director, Dr. Héctor Nava Jaimes y de todo el personal profesional de esaentidad, que tuvo la gentileza de transmitir, ampliamente y sin reserva, sus conocimientos y sus formas de trabajo. Las modificaciones hechas a esta segunda edición responden a sugerencias de personal del CENAM. Agradecemos en particular al Dr. Ismael Castelazo Sinencio, Director de Servicios Tecnológicos y al M .en C. Rubén Lazos, Coordinador Científico, ambos del CENAM, y al Dr. Luis Mussio, Jefede Metrología del Laboratorio Tecnológico del Uruguay (LATU), sus valiosas observaciones. El contenido de esta publicación es responsabilidad únicamente de los autores.

Marzo 2002

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PRESENTACIÓN
La presente publicación responde a la necesidad de poner en manos de quienes no son metrólogos un material, científica y técnicamente confiable, que sea un primer acercamiento a lo...
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