metrologia

FACULTAD DE ESTUDIOS SUPERIORES CUAUTITLÁN
DEPARTAMENTO DE INGENIERÍA

LABORATORIO DE TECNOLOGÍA DE MATERIALES
LECTURAS DE INGENIERÍA 16
METROLOGÍA

DIMENSIONAL

M. en I. Felipe Díaz del Castillo Rodríguez.
CUAUTITLÁN IZCALLI 2010

ÍNDICE
Pag.

INTRODUCCIÓN ………………… ……………………………………………………...…1
CAPITULO 1
METROLOGÍA
1.1 CONCEPTOS FUNDAMENTALES ……………………… ………………………………………2
1.2CARACTERÍSTICAS QUE DEBE REUNIR UN LABORATORIO DE METROLOGIA
DIMENSIONAL …………………………………………… ……………………………………..2

CAPITULO 2
TEORÍA BASICA
2.1 FUNDAMENTOS DE LA TEORÍA DE MEDICIÓN
2.1.1. Concepto de medición…………..……………………………………………………………5

2.1.2 Sistemas de medir. …………………………………………………………………..6
2.2. TEORÍA DE LOS ERRORES…………… ……………………………………………………… …8
2.2.1. Errores delaparato…………………………………………………………………………..9
2.2.2. Errores del operador …………………………………………………………………… 10
2.2.3 Error por el medio ambiente ……………………………………………………………. 11

CAPÍTULO 3
INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN
3.1. CLASIFICACIÓN DE LOS INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN. ………………………………15
3.2. CARACTERÍSTICAS QUE DEFINEN A UN INSTRUMENTO DE MEDICIÓN ……………16

CAPITULO 4
PATRONES
4.1 GENERALIDADES………………………… ………………………………………………………..17
4.2 CLASIFICACIÓN……………………………… ………… ……………………………………. 17

4.3DESCRIPCIÓN………………………… …………………………………………………17
4.3.1 Patrones prototipo internacional …… ………………………………………….17
4.3.2 Patrón primario

……………………………………………………………………….18

4.3.3 Patrón secundario ………………………………………… ……………………..18
4.3.4 Patrón de taller …………………………………………………………………….18
4.3.5 Patrones de trazos …………………………………………………………………18
4.3.6 Patrones de caras paralelas ………………………………………………………………..19
4.4.PATRONES DE EXTREMOS ESFÉRICOS ………………………………………………………24
4.5. PATRONES CILÍNDRICOS ……………………………………………………………………….25

CAPITULO 5
COMPARADORES DE CARÁTULA
5.1.- GENERALIDADES …………………………… …………………………………………………28

5.2. COMPARADOR DE CARÁTULA. … ……………………………………………………………28
5.2.1. Método de operación …
……………………………… ……………………….. 31
5.3. COMPARADOR DIGITAL
…………………………………………………………………… 32

CAPÍTULO 6CALIBRADOR CON VERNIER
6.1 GENERALIDADES ………………………………………………………………………………..34
6.2 DESCRIPCIÓN. ……………………………………………………………………………………34
6.3. REPRESENTACIÓN DE LAS DIFERENTES GRADUACIONES DE LOS CALIBRADORES
CON VERNIER.
…………………………………………………………………………….36
6.4. DETERMINACIÓN DE UNA LECTURA CON EL CALIBRADOR CON VERNIER
……37
6.5. CALIBRADOR CON INDICADOR DE CUADRANTE 0 CARÁTULA ……………………….43
6.6.CALIBRADORES ELECTRODIGITALES ……………………… ………………………………43
6.7. PRECAUCIONES AL MEDIR. …………………………………………………………………….44

CAPÍTULO 7
EL MICRÓMETRO
7.1. GENERALIDADES. ………………………………………… ……………………………………51
7.2 DESCRIPCIÓN ………………………………………………………………………………………51
7.3. TIPOS DE MICRÓMETROS. ………………………………………… …………………………56
7.4. CAUSAS DE ERROR DE LOS MICRÓMETROS. ………………………………………………57
7.4.1. Verificación de losmicrómetros…………………………………… ……………………58

CAPÍTULO 8
OTROS INSTRUMENTOS
8.1. GRAMIL O CALIBRE DE ALTITUD. … ………………………………………………………...63
8.2. CALIBRES DE HERRADURA ……………………………………………………………………..66
8.3. ALESÁMETRO …………………… ………………………………………………………………67
8.4. GONIÓMETRO ……………………………
. …………………………...…………………….69
8.5. RUGOSÍMETRO.................................................................................................. ...............................71
8.6. COMPARADOR ÓPTICO (PROYECTOR DE PERFILES) …………………………………….73
8.7. PLANTILLAS ………………………………… ……………………………………………………77
8.8. MÁQUINAS DE MEDICIÓN POR COORDENADAS ……………………………………………78

8.8.1. Aplicaciones de las máquinas de medir por coordenadas ………………… ….80
8.8.2. Instalación de una CMM ……………… ………………………………………………….80
8.8.3. Las arquitecturas de lasCMM.
………………………………………… …..81
8.9. LA MEDIDA SIN CONTACTO. ……………………………………………………… …………. 89
8.9.1 El escáner con luz blanca. …………………………………………………… …………. 90
8.9.1.1. Aplicaciones. ……………………………………………………… ………… 92
8.9.2. El escáner láser. ……………………………………………………………………………93
8.9.2.1 Aplicaciones ……………………………………………… ……………………95
8.10. METROLOGÍA PORTÁTIL...