Sistema de análisis por espectrometría de emisión óptica gds

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CURSO Introducción al Sistema de Análisis por Espectrometría de Emisión Óptica GDS

Autores: Juan RUFFINO y Federico NAPOLITANO INBOX Technology and Services SA DC & E – Departamento de Capacitación y Entrenamiento CAPACITACION EN PLANTA
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Temario
Cap. 1: Sistema de Análisis
1.1 1.2 1.3 1.4 Control de Calidad del ProductoCadena de Calidad El Laboratorio y su rol Cliente / Proveedor Control Instrumental y Control del Producto

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Cap. 2 : Análisis por Espectrometría de Emisión Óptica
2.1 2.2 2.3 Uso del Espectrómetro de EO en la Industria Metalúrgica Control del Proceso vs Control del Producto Análisis Químico Metalúrgico

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Cap. 3 :Conceptos en Espectrometría de Emisión Óptica
3.1 3.2 3.2.1 3.2.2 3.2.3 3.2.4 3.2.5 3.2.6 3.2.7 3.3 3.3.1 3.3.2 3.3.3 3.3.4 3.3.5 3.3.6 3.3.7 Breve historia de la Espectrometría de Emisión Óptica Elementos Físicos de la Espectrometría de Emisión Óptica Conceptos de Espectrometría de EO Ecuaciones Características Estructura Atómica Excitación Atómica Líneas Espectrales El Espectro ElectromagnéticoClasificación de los Métodos Espectrométricos de uso Metalúrgico Emisión / Dispersión / Detección Principio de la Espectrometría de Emisión Óptica Configuración básica de un Espectrómetro de E.O. Secuencia de un Análisis por OES Ataque y Excitación Emisión Dispersión Detección

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Pág. 16 Pág. 22 Pág. 22 Pág. 23 Pág. 23 Pág. 27 Pág. 28 Pág. 30 Pág. 33 Pág. 37 Pág. 37 Pág. 40 Pág. 41 Pág. 41Pág. 42 Pág. 43 Pág. 44

Cap. 4 : Descripción de un Espectrómetro de Emisión Óptica
4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 Diagrama de bloques de un Espectrómetro de E.O. Sistema de Excitación Layout Óptico Tips en Espectrómetros de Emisión Óptica Comparación Espectrómetro de chispa vs. GDS

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Cap. 5 : Preparación deMuestras
5.1 5.2 5.3 5.4 5.4.1 5.4.2 5.4.3 La toma de Muestras Representatividad Homogeneidad / Heterogeneidad Preparación de Muestras para analizar con GDS500 Muestras típicas La importancia de la Muestra Tamaños mínimos y máximos de la Muestra

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Pág. 64 Pág. 64 Pág. 65 Pág. 65 Pág. 65 Pág. 66 Pág. 66

Cap. 6 : Operación del Espectrómetro LECO GDS500
6.1 6.2 6.3 6.4 6.5 6.6 6.7 6.8 6.9Análisis de Muestras - Preliminares Preparación de la Muestra Carga de la Muestra en el Instrumento Arranque del Análisis - Quema Resultado del Análisis Calibración Verificación Normalización (Drift) Aceptación de la Normalización (Drift)

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Cap. 1: Sistema de Análisis1.1 Control de Calidad del Producto

Desde el inicio de esta era, las organizaciones han buscado mejorar su competitividad implantando programas y técnicas para el mejoramiento de la calidad de sus productos y servicios, así como la productividad de su operación. Con este fin, la visión de la calidad en la industria ha ido evolucionando desde la premisa del control del producto en su estadoterminado, hasta los conceptos modernos en los que “la calidad se diseña y se fabrica”. Siguiendo esta consigna, los sistemas de calidad han evolucionado desde el tradicional “Control de la Calidad”, hasta el actual concepto de “TQM - Total Quality Management”

Estado 1

Control de la Calidad

Estado 2

Aseguramiento de la Calidad

Estado 3

Calidad Total (TQM)

De acuerdo a su realidadoperativa y su visión, las empresas determinan su política de calidad. El concepto moderno de Calidad establece un sistema de responsabilidades compartidas, donde cada actor ó fase del proceso es interdependiente, estableciéndose una cadena de procesos hasta llegar al producto “necesario” y “satisfactorio”. En su concepto más elaborado, lo importante no es el “producto” sino el “cliente”. Tiempo...
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