Análisis De Difracción Para Muestras De Oro Y Cloruro De Sodio

Análisis de difracción para muestras de Oro y Cloruro de Sodio
Fernando Ovidio Chacmana Linares
Laboratorio de Microscopia Electrónica, Facultad de Ciencias. Universidad Nacional de Ingeniería;
fochali_20@hotmail.com

Elaborado el 30 de junio del 2011

Este trabajo comprende los aspectos de difracción, indexación, características, estructuras y todo lo relacionado con una muestra de Oro yotra de Cloruro de Sodio proporcionado en clase. Para eso nos ayudamos con dos programas que nos van a facilitar de encontrar los datos respectivos de las muestras así como las distancias interplanares y los radios de los patrones con la intención de hallar luego la longitud de cámara por muestra.
Palabras Claves: Longitud de cámara, Difracción, Indexación
This work understands the aspects ofdiffraction, indexation, characteristics, structures and everything related to a golden sample and other one of Chloride of Sodium provided in class. For it we help ourselves with two programs that are going to help to find the respective information of the samples as well as the distances interplanares and the radiuses of the bosses with the intention of finding then the length of chamber forsample.
Keywords: Length of chamber, Diffraction, Indexation

1. Introducción
Los electrones, en su comportamiento ondulatorio, pueden ser difractados al atravesar una muestra cristalina dando lugar a un patrón de difracción que contiene información acerca de la estructura cristalina de ésta. Se pueden obtener dos tipos de patrones de difracción y pasamos a indicar:

Patrones de difracción deun área seleccionada (patrones SAD) y patrones de difracción de haz convergente (patrones CBED). Los patrones SAD son diagramas de puntos muy nítidos que se forman usando un haz de electrones prácticamente paralelo y colocando una apertura en el plano de la imagen para seleccionar un área determinada. Los patrones CBED son un conjunto de discos que se forman enfocando el haz en un área pequeña dela muestra. Dependiendo de las características de ésta y atendiendo al tamaño de grano se utilizará SAD o CBED (siempre teniendo en cuenta que si el tamaño de grano es muy pequeño, menor de 10 nm, no se puede analizar un grano individual).
El indexado posterior de los patrones de difracción asocia cada punto con un plano cristalino (hkl) y a partir de ahí se puede deducir la orientación delcristal en términos de los ejes de zona [UVW] a los cuales pertenecen los planos indexados.
Trataremos estos temas de aca en adelante además de los resultados que obtuvimos con ayuda de los programas Difracction y PCPDFWIN.

2. Fundamento Teórico
2.1 Difracción de electrones
La Difracción de electrones es una técnica utilizada para estudiar la materia haciendo que un haz de electrones incidasobre una muestra y observando el patrón de interferencia resultante. Este fenómeno ocurre gracias a la dualidad onda-partícula, que establece que una partícula de materia (en este caso el electrón que incide) puede ser descrita como una onda. Por esta razón, un electrón puede ser considerado como una onda muy similar al sonido o a ondas en el agua. Esta técnica es similar a la difracción de losrayos-X o la difracción de neutrones.

Figura 1. Difracción de electrones en un TEM

A diferencia de otros tipos de radiación utilizados en estudios de difracción de materiales, tales como los rayos-X y los neutrones, los electrones son partículas que poseen carga e interactúan con la materia a través de la fuerza eléctrica. Esto significa que los electrones que inciden son influenciados tantopor la carga positiva del núcleo atómico como por los electrones que rodean el núcleo. En comparación, los rayos-X interactúan con la distribución espacial de los electrones en las capas exteriores (electrones de valor), mientras que los neutrones son dispersados por la fuerza de la interacción nuclear fuerte del núcleo. Además, el momento magnético de los neutrones es diferente de cero, por lo...