Analisis de falla de max pixel



Analisis de falla Max pixel SB8
Analisis experimental max pixel above.
Definicion de max pixel above.
Este es un error que es actualmente difícil de cuantificar, pero puede ser el resultado de la capacidad de enfoque / calibración, o el resultado de problemas boackboard / bezel.
Durante el proceso, la cámara asigna el límite del bezel. Al mirar la imagen, la parte inferior del bezel estáen contra de la superficie reflectante de la union del tablero y el retrotape, y la parte superior es el mismo bezel (es decir, va a desaparecer del tablero. Básicamente, el firmware intenta identificar el bezel de la parte inferior, así, se escoge un píxel inicial en cada columna que excede un cierto valor, y un mapa de pixeles desde abajo, y lo toma como la altura de bezel. Esto lo hace tomandoalgunos promedios, y esto es una cosa que realiza el algoritmo del programa de prueba. Max pixel above se produce cuando hay píxeles brillantes por encima de la línea (amarillo, en este caso) que terminan por encima del valor umbral. (se puede ver en la imagen que hay una tonelada de píxeles brillantes debajo del cálculo bisel - es decir, la línea naranja) y el producto final sólo se preocupapor lo que está entre los dos líneas de colores, en realidad, esto puede poner de relieve cuestiones de enfoque / calibración (es decir, el enfoque borroso, que realmente debería haber fracasado FOC / FOCV de la prueba de la camara en ese punto), o puede poner de relieve problemas del tablero (es decir, reflexiones añadidas / interferencia causada por el "borde” del propio tablero). O, se puedeindicar que la propia cámara ha cambiado mecánicamente desde el punto en que FOC y curado UV se realizó.

Analisis de dimensiones de un solo rollo de retrotape.
Como parte del analisis de los defectos de max pixel above, se hizo un analisis de las dimensiones del retrotape, donde se midio un rollo de tape reflectivo cada metro y se desarrollaron las siguientes mediciones:
No/parte
1008135No/lote
BOA2
Cant./rollo
45.7m.
Spec.
17.52 + .25mm.
Slitting date
11/16/2012
No.
Lecturas
1
17.66
2
17.58
3
17.65
4
17.79
5
17.77
6
17.75
7
17.75
8
17.71
9
17.74
10
17.78
11
17.70
12
17.81
13
17.81
14
17.77
15
17.82
16
17.76
17
17.66
18
17.67
19
17.69
20
17.72
21
17.64
22
17.80
23
17.77
24
17.71
25
17.81
26
17.71
27
17.79
28
17.7329
17.71
30
17.74
31
17.72
32
17.71
33
17.67
34
17.67
35
17.76
36
17.69
37
17.70
38
17.66
39
17.65
40
17.74
41
17.69
42
17.66
43
17.62
44
17.63
45
17.61

El analisis estadistico de los datos arrojo la siguiente informacion:

Conclusion.
De esta informacion podemos ver claramente que el 18% del rollo en cuanto a su medida de ancho esta fuera de especificacion,que el indice de capacidad del proceso de corte del proveedor esta en el 0.3.

Analisis de nueve rollos del mismo lote.
Despues de haber tomado las lecturas de este rollo se procedio a medir 9 rollos en cuatro puntos de la circunferencia cada 90° y tomar estas cuatro lecturas para sacar el CPk de este grupo de rollos, y lo que se encontro fue lo siguiente:
Toma de Medidas de Rollos deRetrotape (p/n 1008135)


























Medidas de Rollos


1
2
3
4
AVR
17.9
18.89
18.03
17.88
18.18
17.97
18.05
17.82
17.89
17.93
17.87
17.78
17.81
17.82
17.82
17.92
17.86
18
18
17.95
17.79
17.88
17.86
17.98
17.88
17.59
17.47
17.58
17.5
17.54
17.94
17.88
17.95
18
17.94
17.98
17.92
17.98
17.94
17.96
18.05
18
18
17.9618.00


Conclusion.
Donde podemos inferior que este grupo de retrotapes en especifico tienen una distribucion muy por encima de lo que marca la especificacion.
Se implemento un poka yoke para permitir la aplicacion de retrotape en los bezels dentro de la especificacion marcada para el uso en pizarrones de 17.52 mm ± 0.25mm, este poke yoke permite solamente pasar anchos de retrotape...