Analitica
Páginas: 16 (3782 palabras)
Publicado: 12 de diciembre de 2012
FLUORESCENCIA DE RAYOS X
1 INTRODUCCIÓN
El análisis por Fluorescencia de Rayos X es de los métodos más económicos, rápidos, no destructivos y no es necesario un operador con experiencia.
Una vez encontradas las condiciones instrumentales conociendo el efecto de la matriz, proporción de la muestra y tratamiento de datos; esta técnica se aplica en análisis rutinarios.
Para cada tipo demuestras se requiere un tratamiento específico; por ejemplo las condiciones para analizar una pirita son diferentes a las de un acero o una hematina, pero en las tres la matriz es hierro y por sus propiedades físicas (grado de cristalización, asociación mineralógica) o químicas (elementos de matriz o impurezas) requieren estudiarlos por separado
1.2 PRINCIPIOS Y CARACTERISTICAS DE TRABAJOLa fluorescencia de Rayos-X (FRX) utiliza Rayos-X para excitar una muestra desconocida. Los elementos individuales abarcan la muestra re emisionando sus propios rayos-X “característicos”. El EDX-700 detecta estos rayos-X y determina cuantitativamente cuales elementos están presentes en el material.
El EDX-700 sistema de FRX de Dispersión de Energía, conocido como EDXRF. Esto indica que losrayos-X son detectados utilizando un semiconductor detector, el cual permite análisis de multi-elementos. Esto hace que el análisis de una muestra sea lo más rápido posible, equivalente en el rango de ppm.
Este diseño de EDXRF tiene un número de ventajas, desde un tamaño compacto hasta una operabilidad sencilla por encima de otros tipos de FRX.
Puesto que, la corta distancia entre la muestra y eldetector, el análisis es posible en medio de la atmósfera, por lo tanto casi todas las muestras pueden ser medidas sin la preparación de un entorno de Vacío.
Además, incluso los elementos más livianos, debajo de C, eran difíciles de analizar por un tipo de Dispersión de Energía convencional de un espectrómetro de fluorescencia de Rayos-X, ahora si pueden ser analizados.
En el EDX-700,puede realizar análisis cualitativos, semi-cuantitativos y cuantitativos de elementos livianos y pesados desde Sodio Na hasta Uranio U, incluyendo en sólidos, polvos y líquidos sin destruirlos. En este instrumento, varios tipos de tecnologías son aplicadas; tecnología de Vacío, de Alto Voltaje y de microprocesamiento.
El espectrómetro de Rayos X consta de 4 unidades principales para sufuncionamiento y aplicación:
a) Instrumento principal EDX-700
b) Bomba de Vacío
c) Unidad de Procesamiento (Computadora Compatible)
d) Impresión de datos (Impresora a inyección de tinta)
.
1.3 COMPONENTES
a) Espectrómetro de Rayos X, marca Shimadzu modelo EDX-700 Rayny Series.
b) Bomba de Vacío.
c) Computadora Personal
d) Mezclador Tipo V.
e) Prensa hidráulicapara elaborar briquetas a una presión mínima de 40 MPa o más.
f) Molino Automático.
1.4.1 ESPECIFICACIONES DEL INSTRUMENTO
a) Principio de Medición : Análisis de Fluorescencia de Rayos-X.
b) Método de Medición : Tipo Energía Dispersiva.
c) Tipo de Muestras : Sólido, Líquido o Polvo.
d) Rango de Elementos : Na hasta U.
e) Generador deRayos-X
Tubo de Rayos-X : Rh
Voltaje : 5 hasta 50kV
Corriente : 1 hasta 1000uA.
Enfriamiento : Ventilador de aire.
Área de Irradiación : 10mm, estándar (1,3,5,10 mm).
Filtro Primario : 5 tipos reemplazo automático (Al,Ti,Ni,Zr,Polymar).
f) Detector
Tipo : Detector de Si (Li)
Fuente LN2 : Solo durante la medición
Capacidad Dewar : 3 Litros
Área Detección : 10mm2
g)Cámara de Muestra
Atmósfera : Aire, Vacío, Helio
Muestreadores : Turret de 16, para Sólidos y Líquidos.
h) Sistema de Evacuación (para medición de elementos livianos con alta
sensitividad)
Evacuación : Bomba de rotación de aceite.
Presión atmosférica : Con un sensor de presión.
1.5 COLOCACIÓN DE MUESTRAS EN EL INSTRUMENTO
Presione OPEN para abrir la cámara de muestra....
1 INTRODUCCIÓN
El análisis por Fluorescencia de Rayos X es de los métodos más económicos, rápidos, no destructivos y no es necesario un operador con experiencia.
Una vez encontradas las condiciones instrumentales conociendo el efecto de la matriz, proporción de la muestra y tratamiento de datos; esta técnica se aplica en análisis rutinarios.
Para cada tipo demuestras se requiere un tratamiento específico; por ejemplo las condiciones para analizar una pirita son diferentes a las de un acero o una hematina, pero en las tres la matriz es hierro y por sus propiedades físicas (grado de cristalización, asociación mineralógica) o químicas (elementos de matriz o impurezas) requieren estudiarlos por separado
1.2 PRINCIPIOS Y CARACTERISTICAS DE TRABAJOLa fluorescencia de Rayos-X (FRX) utiliza Rayos-X para excitar una muestra desconocida. Los elementos individuales abarcan la muestra re emisionando sus propios rayos-X “característicos”. El EDX-700 detecta estos rayos-X y determina cuantitativamente cuales elementos están presentes en el material.
El EDX-700 sistema de FRX de Dispersión de Energía, conocido como EDXRF. Esto indica que losrayos-X son detectados utilizando un semiconductor detector, el cual permite análisis de multi-elementos. Esto hace que el análisis de una muestra sea lo más rápido posible, equivalente en el rango de ppm.
Este diseño de EDXRF tiene un número de ventajas, desde un tamaño compacto hasta una operabilidad sencilla por encima de otros tipos de FRX.
Puesto que, la corta distancia entre la muestra y eldetector, el análisis es posible en medio de la atmósfera, por lo tanto casi todas las muestras pueden ser medidas sin la preparación de un entorno de Vacío.
Además, incluso los elementos más livianos, debajo de C, eran difíciles de analizar por un tipo de Dispersión de Energía convencional de un espectrómetro de fluorescencia de Rayos-X, ahora si pueden ser analizados.
En el EDX-700,puede realizar análisis cualitativos, semi-cuantitativos y cuantitativos de elementos livianos y pesados desde Sodio Na hasta Uranio U, incluyendo en sólidos, polvos y líquidos sin destruirlos. En este instrumento, varios tipos de tecnologías son aplicadas; tecnología de Vacío, de Alto Voltaje y de microprocesamiento.
El espectrómetro de Rayos X consta de 4 unidades principales para sufuncionamiento y aplicación:
a) Instrumento principal EDX-700
b) Bomba de Vacío
c) Unidad de Procesamiento (Computadora Compatible)
d) Impresión de datos (Impresora a inyección de tinta)
.
1.3 COMPONENTES
a) Espectrómetro de Rayos X, marca Shimadzu modelo EDX-700 Rayny Series.
b) Bomba de Vacío.
c) Computadora Personal
d) Mezclador Tipo V.
e) Prensa hidráulicapara elaborar briquetas a una presión mínima de 40 MPa o más.
f) Molino Automático.
1.4.1 ESPECIFICACIONES DEL INSTRUMENTO
a) Principio de Medición : Análisis de Fluorescencia de Rayos-X.
b) Método de Medición : Tipo Energía Dispersiva.
c) Tipo de Muestras : Sólido, Líquido o Polvo.
d) Rango de Elementos : Na hasta U.
e) Generador deRayos-X
Tubo de Rayos-X : Rh
Voltaje : 5 hasta 50kV
Corriente : 1 hasta 1000uA.
Enfriamiento : Ventilador de aire.
Área de Irradiación : 10mm, estándar (1,3,5,10 mm).
Filtro Primario : 5 tipos reemplazo automático (Al,Ti,Ni,Zr,Polymar).
f) Detector
Tipo : Detector de Si (Li)
Fuente LN2 : Solo durante la medición
Capacidad Dewar : 3 Litros
Área Detección : 10mm2
g)Cámara de Muestra
Atmósfera : Aire, Vacío, Helio
Muestreadores : Turret de 16, para Sólidos y Líquidos.
h) Sistema de Evacuación (para medición de elementos livianos con alta
sensitividad)
Evacuación : Bomba de rotación de aceite.
Presión atmosférica : Con un sensor de presión.
1.5 COLOCACIÓN DE MUESTRAS EN EL INSTRUMENTO
Presione OPEN para abrir la cámara de muestra....
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