Campos

TEMA 2: Inspecci´
on estad´ıstica por atributos
1 Introducci´on: Inspecci´on estad´ıstica de lotes.
2 Planes de muestreo simple por atributos.
3 Planes de muestreo doble, m´
ultiple y secuencial.
4 Planes de muestreo de conformidad sensible a los lotes.
5 Norma militar 105D.
6 Planes de muestreo de Dodge-Romig.

1.

Introducci´
on

La inspecci´on de materias primas y productos elaborados osemielaborados es una
parte importante del control de calidad. Una aplicaci´on adecuada de las t´ecnicas de
muestreo reduce en parte las deficiencias que crean la necesidad del empleo de otro m´etodos estad´ısticos para el control de la calidad, aunque hay que tener en cuenta que la
inspecci´on de muestras no es una forma activa de mejora de la calidad. Con frecuencia no
s´olo se inspeccionan materiasprimas y productos elaborados o semielaborados sino que
se suele inspeccionar las unidades producidas en diferentes etapas de la cadena productiva. Seg´
un se coment´o en el tema anterior hay tres posibles actuaciones en la revisi´on de
lotes de unidades producidas. La primera consiste en aceptar el lote sin inspeccionarlo. La
segunda en realizar una inspecci´on 100 %, reemplazando las unidadesdefectuosas. Finalmente, la tercera consiste en realizar la inspecci´on de una muestra o inspecci´on estad´ıstica
del lote. Las ventajas de la inspecci´on estad´ıstica frente a la inspecci´on 100 % son de tipo
econ´omico (se disminuyen los costos de inspecci´on) y de tipo pr´actico (se producen menos
desperfectos por manipulaci´on de productos, se necesita menos personal para realizarla,
y se puedeaplicar a unidades que se destruyen al ser inspeccionadas). Los inconvenientes
son la existencia de un cierto riesgo de rechazar lotes de buena calidad o de aceptar lotes
de mala calidad, as´ı como la obtenci´on de menos informaci´on que con la inspecci´on total.
Un plan de inspecci´on estad´ıstica se define en t´erminos de tres par´ametros: El
tama˜
no del lote N , el tama˜
no muestral n, y elcriterio de aceptaci´on-rechazo c.
Un esquema de inspecci´on es un conjunto de planes de inspecci´on en los que se
especifica el tama˜
no de los lotes, el tama˜
no muestral y el criterio para aceptarlos o
rechazarlos.
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Un sistema de inspecci´on se constituye a partir de un conjunto de esquemas de
inspecci´on.
Los planes de inspecci´on de muestras se clasifican en planes por atributos y planes porvariables seg´
un que la caracter´ıstica de la calidad estudiada sea cualitativa o num´erica. La
inspecci´on estad´ıstica no es est´atica sino din´amica, evoluciona seg´
un la experiencia que
se adquiere con las unidades inspeccionadas. M´as concretamente, se suele comenzar con
un plan de muestreo por atributos cuando no se tiene conocimiento previo o experiencia
sobre el proceso. Posteriormentesi se posee m´as informaci´on sobre la caracter´ıstica de
la calidad estudiada se puede pasar a un muestreo por variables. Cuando se adquiere un
nivel de calidad se puede efect´
uar una reducci´on del tama˜
no muestral, e incluso se puede
optar por un muestreo por lotes salteados, o finalmente por la no inspecci´on.
Los planes de inspecci´on por muestreo son un intermedio entre la inspecci´on 100 %y
la no inspecci´on. De dichos planes hay que destacar los siguientes aspectos:
El prop´osito de la inspecci´on por muestreo es juzgar los lotes, no estimar su calidad.
La inspecci´on estad´ıstica no produce una mejora de la calidad.
En resumen la inspecci´on por muestreo permite verificar si las especificaciones se cumplen
pero no permite mejorar la calidad o prevenir errores.
La conformaci´onde los lotes puede influir en la eficacia de la inspecci´on por muestreo.
As´ı se tiene que son deseables las siguientes caracter´ısticas: La homogeneidad, tama˜
nos
grandes son preferibles a tama˜
nos peque˜
nos, los lotes deben adecuarse a los sistemas
de manipulaci´on que se utilizan en las instalaciones del proveedor y del consumidor. El
esquema de muestreo aleatorio utilizado tambi´en...