cien

Páginas: 8 (1962 palabras) Publicado: 12 de noviembre de 2014
Ingeniería en Nanotecnología





Introducción
El microscopio de fuerza atómica ha sido un equipo importante y de gran aplicación para la elucidación de la microestructura de materiales.
Basado en la interacción local entre la punta y la superficie de una muestra, el microscopio es capaz de proporcionar imágenes tridimensionales de superficies con alta resolución espacial entiempo real. Debido a esto, el microscopio es utilizado en la caracterización de materiales para determinar sus propiedades físicas, el microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas, además de las características que es capaz de determinar en los materiales a analizar.
Por ello, eneste trabajo hablaremos de manera precisa acerca de la punta y el cantiliver de un microscopio de fuerza atómica, y de si sería posible y viable hacer modificaciones en la misma, al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos200 µm.
Unos de los aspectos más importantes en la resolución de las imágenes obtenidas por microscopia de fuerza atómica es la agudeza de la punta, eh aquí la importancia de analizarlas y corroborar posibles mejoras en las mismas.
Objetivo
Platear un cambio en la punta del microscopio de fuerza atómica, para mejorar sus propiedades.










Microscopio de Fuerza Atómica ( AFM)Los principios básicos por los que se rige el trabajo de un AFM son muy sencillos. Una punta muy fina se barre de manera automática sobre una superficie mediante un mecanismo de retroalimentación que permite que unos scanners piezoeléctricos mantengan la punta interaccionando con la superficie a fuerza constante (de esta manera se obtiene información de alturas, topográfica), o a altura constante(para obtener información de fuerza) respecto de la superficie de la muestra. Las puntas se fabrican normalmente de silicio o nitruro de silicio extendidas hacia abajo desde el final del cantilever. En general, los cabezales de AFM (donde se encuentra el cantilever, la punta y la muestra, por tanto donde se realiza la medida Figura 5) poseen un sistema óptico de detección en el cual incide elhaz láser reflejado por el cantilever.
La fuerza atómica se puede detectar cuando la punta está muy próxima a la superficie de la muestra.   Es posible entonces  registrar la pequeña flexión del listón mediante un haz laser reflejado en su parte posterior.  Un sistema auxiliar piezoeléctrico desplaza la muestra tridimensionalmente, mientras que la punta recorre ordenadamente la superficie. Todoslos movimientos son controlados por una computadora.

La resolución del instrumento es de menos de 1 nm, y la pantalla de visualización permite distinguir detalles en la superficie de la muestra con una amplificación de varios millones de veces.


Las puntas de AFM se elaboran mediante procesos de microfabricación, pudiéndose obtener puntas con radios de curvatura de entre 1 y 10 nm. Lasdimensiones de la micropalanca (cantilever) varían entre 50 y varios centenares de micras determinando esta longitud su dureza final, es decir la constante de fuerza del cantilever (k o constante de la sonda) y por tanto, dependiendo de la aplicación o la superficie a analizar se elegirá una sonda u otra existiendo múltiples combinaciones entre la geometría y dimensiones de la punta y la longitud delcantilever.
Las micropalancas pueden ser de diferentes formas, por ejemplo, las de forma triangular se pueden utilizar para las medidas de fricción y en medio líquido debido a su mayor estabilidad, y las de forma rectangular se suelen utilizar para realizar experimentos al aire.
A veces las puntas se fabrican con recubrimientos finos de un material reflectante, lo que permite un aumento de la...
Leer documento completo

Regístrate para leer el documento completo.

Estos documentos también te pueden resultar útiles

  • CIEN
  • cien
  • Cienas
  • cien
  • el cien
  • cien
  • cien a os
  • Cien

Conviértase en miembro formal de Buenas Tareas

INSCRÍBETE - ES GRATIS