Ciencia

Ingeniería de Control II (Ing.P.Cr.)

Ingeniería de Control II (Ing.P.Cr.) (2012-2013)
Presentación
Programa
Bibliografía

http://www.unav.es/asignatura/icontroling2/

1 de 5

Ingenieríade Control II (Ing.P.Cr.)

Presentación
Nombre de la asignatura:Ingeniería de Control II
Facultad:Escuela Superior de Ingenieros
Departamento:Automática y Electrónica Industrial
Curso:5ºDuración (trimestral, anual):Segundo semestre
Número de créditos:6
Profesor: Dr. D. Julián Flórez Esnal
Tipo de asignatura (troncal, obligatoria, optativa, etc.):Troncal
Idioma en que seimparte:Castellano

http://www.unav.es/asignatura/icontroling2/

2 de 5

Ingeniería de Control II (Ing.P.Cr.)

Programa
La aparición del microprocesador a mediados de los años 70 y la continua mejora yevolución que está
sufriendo la electrónica está generando un profundo cambio en los sistemas de control industriales. Ello
incide tanto en las herramientas matemáticas de análisis como en lasmetodologías de diseño de
controladores. El curso se centra en el análisis y diseño de sistemas de control muestreados, estudiándose
tanto el problema matemático como su adecuación a la tecnología digital.1. Introducción
Comparación de los sistemas continuos con los sistemas digitales.
Importancia de los sistemas digitales gracias a la aparición del microprocesador.
2. El muestreo
Descripción delproceso de muestreo.
Muestro de f(t) mediante pulsos periodicos de amplitud unidad y duración a < T.
Función muestreada f*(t).
Transformada de Fourier de la función muestreada F*(ω).Representación gráfica de F*(ω).
El solapamiento o "aliasing". Filtros anti-aliasing.
Teorema de Shannon del muestreo.
3. El muestreo ideal
Muestro de f(t) mediante impulsos unitarios periodicos.Nueva función muestreada f*(t).
Transformada de Fourier de la nueva función muestreada F*(ω).
Representación gráfica de F*(ω).
Ventajas del muestreo ideal.
4. Transformada de Laplace...