curva caracteristica del trasistor

FISI 3143: Laboratorio de Electrónica I
Departamento de Física y Electrónica
Universidad de Puerto Rico en Humacao
2013-2014

Práctica 8 (final): Automatización Medidas Curvas Características deTransistor BJT
Objetivo: Automatizar las medidas y visualización de las curvas características de
transistor BJT utilizando LabVIEW.
Referencias:
1. Notas y enlaces en página del curso(http://mate.uprh.edu/~iramos/teel2032.html).
2. Boylestad and Nashelsky, Electronic Devices and Circuit Theory, Prentice Hall, 7th
Ed., Cap. 3.
1. Introducción:
En este laboratorio automatizaremos laadquisición de datos y trazado de las curvas
características del BJT estudiado en el laboratorio anterior. Refiérase al laboratorio 7
para la teoría y descripción del circuito.
Práctica 1: Programaciónde VI para medir y trazar curva característica IC vs
VCE
1. En este VI es necesario controlar dos de las salidas del Power Supply para suplir
los voltajes VBB y VCC al mismo tiempo. Asegúrese quepuede controlar estas salidas
correctamente antes de continuar con el resto de la la programación.
2. Programe un VI para que aplique los voltajes VBB y Vcc al circuito del laboratorio
anterior,calcule IC y muestre la curva característica (IC versus VCE). Ajuste los
voltajes VBB y VCC utilizando los parámetros en las Prácticas 2 y 3 del laboratorio 7.
3. Muestre los resultados a laprofesora.
4. Discuta los resultados en su informe.
Práctica 2: Curvas características múltiples
1. Modifique su programa para que mida y muestre las curvas característics para
distintos valores de IB. Enesta parte debe añadir un ciclo que cambie la corriente
en la base. Dentro de ese ciclo debe estar el ciclo de la práctica 1.
2. Muestre los resultados a la profesora.
3. Discuta los resultados ensu informe.

FISI 3143-2013-I. Ramos

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FISI 3143: Laboratorio de Electrónica I
Departamento de Física y Electrónica
Universidad de Puerto Rico en Humacao
2013-2014

Práctica 3: (bono)...