derechos humanos







Metrología dimensional




Nombre: Juan Carlos Santiago López
Maestro: Fernando Brito Villegas
Matricula: 13130161







C.D OBREGON, SONORA A 26 DE AGOSTO DEL 2014
La metrología es la rama de la física que estudia las mediciones de las magnitudes garantizando su normalización mediante la trazabilidad. Acorta la incertidumbre en las medidasmediante un campo de tolerancia. Incluye el estudio, mantenimiento y aplicación del sistema de pesos y medidas. Actúa tanto en los ámbitos científico, industrial y legal, como en cualquier otro demandado por la sociedad. Su objetivo fundamental es la obtención y expresión del valor de las magnitudes empleando para ello instrumentos, métodos y medios apropiados, con la exactitud requerida en cada caso.La metrología tiene dos características muy importantes; el resultado de la medición y la incertidumbre de medida.
Parámetros a considerar en toda calibración[editar]
Error de medición: Resultado de una medición menos el valor verdadero del mensurando.
Desviación: Valor medido menos su valor de referencia.
Error relativo: Es la relación entre el error de medida y un valor verdadero delmensurando. — Valor del mensurando recogido en el patrón—. El error relativo se suele expresar también en forma porcentual: 100 %.
Error sistemático: Serían debidos a causas que podrían ser controladas o eliminadas —por ejemplo medidas realizadas con un aparato averiado o mal calibrado—.
Corrección: Valor sumado algebraicamente al resultado sin corregir de una medición para compensar un errorsistemático. De lo que se deduce que la corrección, o bien sea reflejada en la hoja de calibración o bien minimizada mediante el ajuste, solo aplica a las derivas de los instrumentos.
Ajuste: Al proceso de corrección se le denomina ajuste, y es la operación destinada a llevar a un instrumento de medida a un estado de funcionamiento conveniente para su utilización. El ajuste puede ser automático,semiautomático o manual.
Patrón primario: Patrón que es designado o ampliamente reconocido como poseedor de las más altas cualidades metrológicas y cuyo valor se acepta sin referirse a otros patrones de la misma magnitud.
Patrón secundario: Patrón cuyo valor se establece por comparación con un patrón primario de la misma magnitud.
Patrón de referencia: Patrón, en general de la más alta calidadmetrológica, disponible en un lugar dado o en una organización determinada, del cual se derivan las mediciones realizadas en dicho lugar.
Patrón de trabajo: Patrón que se utiliza corrientemente para calibrar o controlar medidas materializadas, instrumentos de medida o materiales de referencia.
Patrón de medida: Valor de medición materializado, aparato o sistema de medida con el que se intenta definir,realizar, conservar, o reproducir una unidad física o bien uno o varios valores conocidos de una magnitud con el fin de que sirvan de comparación a otros elementos de medida [BIPM 1993].[4]


Las contribuciones a la incertidumbre vienen determinadas por los componentes de esa incertidumbre, junto con su cálculo y combinación:
1. Calibración: Dada por el certificado de calibración.

2. Deriva:Variación de la medida a lo largo del tiempo.

3. Temperatura: Debida a la influencia de la temperatura.
4. Resolución: Mínima variación perceptible.

5. Inestabilidad: Inestabilidad de la fuente de medida o equipo.


6. Método: Debida al método de medida, posible método de medida indirecta de la magnitud a medir.

7. Repetibilidad: Debida a las medidas realizadas por un mismoinstrumento en distintas condiciones.
8. Operador: Debidos a equipos de medida analógicas especialmente, por lo que se aconseja hacer coincidir las medidas con las divisiones de la escala.
9. Reproducibilidad: Debida a las medidas realizadas por distintos instrumentos en distintas condiciones.
Trazabilidad:
La trazabilidad es la propiedad del resultado de las mediciones efectuadas por un...