Diseño Básico Del Microscopio De Fuerza Atómica

Diseño básico del Microscopio de Fuerza Atómica
1. Láser – En el AFM el láser es estacionario. La muestra se mueve debajo de la punta y la punta sube o bajabasada en la topografía del fotodiodo, el cual siente su posición.

2. Viga flexible – La viga posee la forma de un trampolín y actúa como un resorte muysuave. Cuando la viga flexible se baja y la punta hace contacto con la superficie, se dobla para que la fuerza entre la punta y la superficie sea bien poca(nano‐Newtons).

3. Punta – La punta al final de la viga flexible es muy importante para la resolución de este microscopio. Mientras más fina la punta, más finos seránlos rasgos que puede detectar. Las puntas mostradas abajo poseen un radio de curvatura de 30 nm y 10 nm respectivamente. Estas puntas están hechas mediante elgolpeteo y estiramiento de silico.




Aplicaciones de la Microscopia de Fuerza Atómica
La microscopia de fuerzas atómicas (AFM) es una técnica basada enla interacción que existe entre una punta muy afilada –en el extremo de una micropalanca flexible o cantilever- y una superficie, de forma que esta interacción setraduce en imágenes simultáneas de la topografía y de otra propiedad de la muestra. Estas imágenes tienen carácter cualitativo y cuantitativo. La otrapropiedad medida refleja los cambios de interacción entre punta y muestra, siendo la adhesión (modo de fuerza), y los cambios de fase (modo dinámico) las másconocidas. 
Ejemplos de Visualización del espacio real a escala manométrica


















Manipulación de Moléculas Individuales