Espectroscopía de Fluorescencía de Rx

Páginas: 10 (2462 palabras) Publicado: 26 de febrero de 2014
Índice
Índice 1
1. ¿Qué son los rayos X? 2
2. Espectrometría de fluorescencia de rayos X emitidos (XRFS): 3
2.1 WD-XRF FRENTE ED-XRF. 6
3. Espectroscopia de Rx 9
4. Aplicaciones 11
5. Espectroscopia de rayos X blandos. 12
6. bibliografía 13


1. ¿Qué son los rayos X?
Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética descubierta casualmente por Röentgen en 1895, que puededescribirse en forma de ondas o en forma de partículas de energía, denominadas fotones, las cuales no tiene masa.
Las ondas electromagnéticas están formadas por un campo eléctrico y un campo magnético perpendiculares entre sí y ambos, perpendiculares a la dirección de propagación.

En el espectro electromagnético, los rayos X están comprendidos entre 0,1 y 100 Å, dividiéndose en rayos X duros (0,1-5Å) y rayos X blandos (5-100 Å).

Existen distintas formas de obtener una fuente de radiación de rayos X:
1)    Por bombardeo de un blanco metálico con un haz de electrones de elevada energía. Este sistema consiste en un cátodo que emite electrones al aplicarle un elevado potencial, el ánodo o blanco metálico emitiendo rayos X.
2)    Por una fuente secundaria que consiste en la exposición  deuna sustancia a un haz primario de rayos x de manera que la sustancia genere un haz secundario de fluorescencia de rayos x, de esta manera se evita el espectro continuo de la fuente primaria y se trabaja solo con los espectros lineales de la fuente secundaria.
3)    Utilizando una fuente radioactiva cuya desintegración genera una emisión de rayos X.

2. Espectrometría de fluorescencia de rayosX emitidos (XRFS):
La espectrometría de rayos X es un conjunto de técnicas que permiten detectar y cuantificar la composición de una muestra de material desconocido irradiándola con rayos X, se caracteriza por el hecho de que la radiación resultante del análisis se descompone en sus diferentes longitudes de onda o espectros para el análisis sobre los elementos o compuestos que contiene lamuestra. Los rayos X de fluorescencia tienen una longitud de onda mayor que los rayos x primarios, estos son característicos del material irradiado o radiante; su misión siempre va acompañada de fotones y las longitudes de onda de estos rayos son independientes de la longitud de onda de la radiación primaria.
Un átomo está compuesto por un núcleo y numerosos electrones distribuidos en diferentes capas,con los electrones de valencia situados en las más externas. Las capas se designan, de la más próxima al núcleo a la más externa, como K, L, M, N… en las que se alojan los electrones de acuerdo con su energía.
Cuando una radiación X, o una partícula acelerada con suficiente energía, colisiona con un átomo, su energía puede ser absorbida por este, y los electrones de las capas internas sondesplazados, llegando incluso hasta provocar su ionización o expulsión del electrón del átomo, denominándose proceso de excitación.
Un electrón de alguna capa mas externa al desplazado puede ocupar el hueco producido en la capa interna cediendo su energía en forma de radiación electromagnética, siendo esta radiación característica y específica para cada átomo, el cual, es el proceso de emisión.Cuando un electrón es desplazado de la capa K, la vacante formada puede ser ocupada por un electrón de la capa L ó M, emitiendo la radiación X correspondiente; el hueco de la capa L es ocupado por electrones de la M, y así sucesivamente. A la reacción emitida se le designa la radiación Kα si el electrón procede de la capa L, y Kβ si procede de la capa M. De la misma manera, con las transicionessucesivas en las siguientes capas, se continúa con el mismo tipo de nomenclatura.

La diferencia de energía entre los niveles K y L, es significativamente mayor que entre los niveles L y M, por lo cual, las líneas K aparecen a longitudes de onda menores que las líneas L. así mismo, la diferencia de energía entre las distintas transiciones Kα, designadas α1, α2, etc, son tan pequeñas que...
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