Experimento de young

Física de Semiconductores
Laboratorio Experimento de Young


OBJETIVO:
El propósito de este experimento es determinar la distancia entre ranuras de una rejilla dedifracción haciendo uso de la imagen recíproca obtenida en un patrón de difracción.

PRÁCTICA:
Se incide una luz de diferentes tipos de ondas de propagación por una rendijaque tiene unas ranuras la cual produce una difracción del haz de luz y podemos observar la difracción colocando una hoja blanca a una distancia de 11 cm un número n dedifracciones.



Los resultados de la práctica en el laboratorio arrojaron unos datos, que al ser tabulados y graficados dieron:

Longitud de onda de 543,5 nm:Sabemos que la pendiente es 1*10-6 y sabemos que la ecuacion de la recta es
y = ((L*λ)/d)*n y entonces igualamos 1*10-6 = (L*λ)/d y despejamos d

d = (L*λ)/ 1*10-6

alreemplazar nos da que d = 0,00006 m.

Longitud de onda de 594,1 nm:



d = (0,11*(594,1*10-9))/1*10-6

d = 0,00006 m

Longitud de onda de 604,7 nm:



d =(0,11*(604,7*10-9))/1*10-6

d = 0,00006 m

Longitud de onda de 632,9 nm:



d = (0,11 *(632,9*10-9 ))/2*10-6

d = 0,00004 m

Las distancias obtenidas en los cálculos delas tres primeras longitudes de ondas son iguales y la última es cercana porque cuando marcamos los puntos en la hoja se pudo haber movido la distancia de la hoja o no semarcaron los puntos donde debían de ser.

Conclusiones:

1. A pesar del movimiento de la hoja, las distancias obtenidas en cada longitud de onda fueron cercanas, con unerror no muy alto en las mediciones.

2. Por los problemas de medición que tuvimos el día de la práctica la ultima longitud de onda no dio igual a las demás.