Fisica

CENTRO UNIVESITARIO MÉXICO
ESPECTRÓMETRO
INTEGRANTES DEL EQUIPO:
MONTIEL MIRASOL DIANA
BALLINAS JAIMES MAYRENE A.
JIMÉNEZ TIRADO MARIA PAULINA
ASESOR: JESUS FLORES TÉLLEZ
PLANTEAMIENTO DEL PROBLEMA
El espectrómetro es un instrumento de medición que analiza el tipo de espectro que emite una fuente o que es
absorbida por una sustancia que se encuentra en el camino de la luz que emite unafuente. Estos espectros de emisión o
de absorción son como una huella digital de las sustancias que forman a nuestra naturaleza.
El funcionamiento del espectrómetro está basado en la descomposición de la luz en las diferentes longitudes de onda
que la componen a partir del fenómeno de refracción que sucede en un prisma o a partir del fenómeno de difracción de la
luz que se produce en una reddifracción. Además este instrumento mide los ángulos en los cuales se presentan los
máximos del patrón de difracción. Estos ángulos son diferentes y característica de la naturaleza de la fuente que emite la
luz. Las componentes básicas de un espectrómetro es un conjunto de lentes, un colimador, una rejilla de difracción y un
ocular, anteriormente detectar el espectro se hacía a simple vista, perohoy en día se pueden usar sensores de luz que
marcan los máximos y mínimos o también se pueden fotografiar los espectros.
Actualmente en nuestro país es difícil que en un colegio se tenga instrumental de laboratorio para el estudio de la física
moderna y la astronomía, ya que este material es de importación, por lo cual es muy costoso, además de que la realidad de
nuestro país lo aleja cadavez más de la investigación de física moderna, que pareciera exclusiva de los laboratorios de alto
nivel de los países desarrollados.
Considerando lo anterior, sería importante buscarse métodos por los cua les los alumnos puedan construir un
espectrómetro para uso escolar de bajo costo.
ANTECEDENTES:
DESCRIPCIÓN DE LA DIFRACCIÓN.
*Las rejillas y los espectros
En el experimento de Young sesupuso que el ancho de la rendija era mucho menor que la longitud de onda, así que la
luz difractada por cada rendija iluminaba la pantalla de observación en una forma esencialmente uniforme. Después se
tomó en cuenta el ancho de la rendija y se demostró que el patrón de intensidades de las franjas de interferencia quedaba
modulado por un “factor de difracción”.
*Rendijas múltiples
En losexperimentos de interferencia de la rendija doble de Young se aumentó el número de rendijas, de dos a un
número mucho mayor “N”. Un dispositivo con más rendijas se llama “rejilla de difracción”. El patrón de intensidad que
resulta cuando sobre la rejilla incide luz monocromática de longitud de onda λ consta de una serie de franjas de
interferencia. La separación angular entre estas franjas quedadeterminada por la relación λ/d, en donde d es el
espaciamiento entre los centros de rendijas adyacentes. Las intensidades relativas de estas franjas quedan determinadas
por el patrón de difracción de una rejilla sencilla, que depende de la relación λ/a, en donde a es el ancho de la rendija.
La relación a/λ determina las relaciones relativas de los máximos principales, pero no alteraapreciablemente su
posición.
*Rejillas de difracción
Generalmente las rejillas se utilizan para medir longitudes de onda y para estudiar la estructura y la intensidad de las
líneas espectrales.
Las rejillas se fabrican rayando surcos igualmente espaciados y paralelos sobre una placa de vidrio o de metal,
utilizando una punta de diamante cuyo movimiento queda controlado en forma automática por unamaquinaria de rayado
sumamente compleja. Una vez que se ha preparado una rejilla maestra, se pueden formar replicas mediante el vaciado de
una solución coloidal sobre la rejilla, dejando endurecer la solución y separándola de la rejilla. El colodión rayado sujeto a
una placa de vidrio plana o a cualquier otro soporte forma una buena rejilla.
El funcionamiento de las rejillas de reflexión también...