Fluorescencia De Rayos x

Páginas: 11 (2694 palabras) Publicado: 29 de septiembre de 2011
Fluorescencia de rayos X por energía dispersiva
Qué es ED-XRF
La fluorescencia de rayos X por energía dispersiva (EDXRF) es una técnica de muestreo versátil, rápida y no destructiva (en algunos casos en los que la penetración de los rayos X no fuera suficiente se requerirían cortes o pulidos, dependiendo también de la uniformidad de la muestra) relativamente nueva, que reconoce un gran númerode elementos químicos (no compuestos químicos) y presenta los resultados en tiempo real, permitiendo decidir la necesidad de muestreo adicional ante resultados analíticos no concluyentes. Logra alcanzar unos límites de detección de hasta 0.002% (20 ppm).
La técnica EDXRF utiliza la emisión secundaria o fluorescente de radiación X que se genera al excitar una muestra con una fuente emisora derayos X. La radiación X incidente o primaria expulsa electrones de capas interiores del átomo. Entonces, los electrones de capas más externas ocupan los lugares vacantes, y el exceso energético resultante de esta transición se disipa en forma de fotones: la llamada radiación X fluorescente o secundaria. Esta radiación de fluorescencia es característica para cada elemento químico. Por lo tanto, esposible identificar un elemento dentro del espectro de la muestra si se conoce la energía entre los orbitales atómicos implicados (longitud de onda). La concentración de cada elemento se detecta midiendo la intensidad de la energía asociada a cada transición de electrones. Es decir, la salida de un análisis EDXRF es un espectro que muestra la intensidad de radiación en función de la energía.
Tipos deEDXRF
Existen dos tipos de ED-XRF. El equipo de mano es rápido y fácil de usar, sin embargo no resulta tan preciso como las máquinas de banco. Ambos tipos presentan una serie de limitaciones que deben ser comprendidas claramente por el analista. Asimismo, requieren seguir un procedimiento apropiado, esencial si se quieren evitar serios errores.
Fluorescencia de rayos X ( XRF )
En la técnicade Fluorescencia de Rayos X dispersiva en energía, o EDXRF (Energy Dispersive X Ray Fluorescence), las muestras son irradiadas con fotones de una energía comprendida normalmente entre 6 y 120 keV, que pueden tener su origen en un tubo de rayos X, capaz de proporcionar intensidades y energías diferentes con una emisión policromática continua, o bien en la emisión espontánea de ciertos radionúclidos.La radiación al incidir sobre las muestras provoca ionizaciones en los átomos de la misma, con el consiguiente relleno de vacantes acompañado de la emisión de rayos X. Estos rayos X son característicos de cada elemento, de manera que su detección permite la identificación de los elementos que componen la muestra.
El CNA cuenta con un equipo portátil de fluorescencia de rayos X formado por:-tubo de rayos X y su correspondiente fuente de alimentación con las siguientes características: voltaje del ánodo de W variable entre 20 y 50 kV y una corriente máxima de 1 mA. El extremo del colimador tiene incorporado un láser que por reflexión total en un pequeño cristal se sitúa en la dirección del haz de rayos X de manera que se puede visualizar sobre la muestra la zona irradiada.
-detector deSi(Li) para la detección de rayos X.
-láser adicional cuya intersección con el del propio tubo permite definir el punto de análisis sobre la muestra, de manera que se mantengan constantes las distancias de la muestra al tubo y al detector.

Además de ser utilizado como una herramienta de análisis complementaria, el carácter portátil de este equipo permite su traslado para la realización deanálisis “in situ”, cuando las muestras a analizar no pueden ser trasladadas al CNA. Este es el caso, por ejemplo, de muestras de gran valor artístico que se encuentran en los museos.
Detección de átomos desplazados elásticamente ( ERD )
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