funciones positivas y negativas

TEMA 2.4 APLICACIÓN DE LOS RAYOS X

•Cristalografia: Area científica que estudia la materia (originalmente materia
cristalina – ordenada) mediante su interacción (difracción) con la radiacción
(rayos X) para obtener información de su estructura molecular y cristalina.
•Difracción: fenómeno físico característico del movimiento ondulatorio.
Estructura: conjunto de ‘conexiones’ interatómicas,-enlaces e interacciones,que configuran una molécula (unidad mínima estructural)

TEMA 2.4.1 METODO DEL LAUE

El método de Laue.
En este método se utiliza un monocristal estacionario, y se sitúa una placa
fotográfica o película plana encerrada en un sobre a prueba de luz a una
distancia conocida, generalmente a 5 cm del cristal. Un haz de rayos X
blancos se hace incidir en el cristalperpendicularmente a la placa fotográfica.
El haz directo produce un ennegrecimiento en el centro de la película y, por
tanto, generalmente se pone un pequeño disco de plomo delante de la
película para interceptarlo y absorberlo.
El ángulo de incidencia entre el haz de rayos X y los distintos planos atómicos
con su espaciado característico es un dato fijo. Sin embargo, como todas las
longitudesde onda se hallan presentes, se puede satisfacer la Ley de Bragg
para cada familia de planos atómicos si la relación 2*d*sen q / n está

comprendido en el rango de longitudes de onda que produce el tubo.
Alrededor del punto central en una fotografía Laue aparecen manchas de
difracción, cada una de ellas el resultado de la reflexión de los rayos X sobre
una serie dada de planos atómicos.
Elmétodo de Laue, aunque de gran interés histórico, ha sido en gran parte
reemplazado por otros métodos más potentes de análisis. Hoy día se emplea
generalmente para determinar la simetría: si un cristal se orienta de tal
manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetría, la
disposición de las manchas en la fotografía revela su simetría. Una fotografía
según este método de unmineral tomado con el haz incidente paralelo al eje
binario de un cristal monoclínico, mostrará una disposición binaria de
manchas; si el haz es paralelo al plano de simetría, la fotografía presentará
una línea de simetría; si es un cristal rómbico mostrará una distribución doble
de las manchas, con dos ejes de simetría. Un inconveniente que surge con
esta técnica es que los rayos X nodistinguen entre extremos opuestos de un
eje polar, y por eso los efectos de difracción introducen siempre un centro de
simetría.
TEMA 2.4.3 LA APLICACIÓN DE LA ECUACIÓN DE BRAGG.
La ecuación conocida como de Ley Bragg, expresa de manera sencilla las
condiciones que se deben cumplir para producirse el fenómeno de la
difracción en los cristales. Aunque los rayos X eran verdaderamente
difractadospor un plano cristalino, esto sólo sucedía en ciertas condiciones
para un cierto grupo de planos paralelos, no de un modo continuo, que
deben satisfacer la ecuación n*l = 2*d*sen q, donde n es un número entero
(1, 2, 3, ... n), l es la longitud de onda, d la distancia entre los planos paralelos
sucesivos y q el ángulo de incidencia y reflexión de los rayos X sobre el plano
considerado.
Sesabe que los cristales están formados por grupos de átomos con una
repetición periódica en puntos reticulares, y las caras que van a aparecer en
el cristal son las paralelas a los planos atómicos que tienen mayor densidad
de puntos reticulares. Paralelamente a cada uno de estos planos existe una
familia de planos idénticos equidistantes. Cuando un haz de rayos X incide
sobre un cristal, penetraen él y la reflexión que resulta no se produce en un
solo plano sino en una serie casi infinita de planos paralelos, cada uno de

ellos contribuyendo un poco a la reflexión total. Con el fin de que sea
suficientemente intensa, las reflexiones individuales deben estar en fase
entre sí para reforzar la intensidad reflejada.
Según la ecuación anterior, para un espaciado y una longitud de...