graficas np y c

De analisis, datos, inspecciones y pruebas finales de un producto ensamblado se detecta a travez de una estratificacion de analisis de pareto que la causaprincipal por la que los articulos salen defectuosos, esta relacionada con los problemas de un componente en particular por lo tanto se desea analizar el procesoque produce tal componente para ello se decide inspeccionar una muestra de 120 de los datos obtenidos en 20 lotes.

Graficos np.
LCS= np + 3 rcuad(np(1-P))
LC= np
LCI= np – 3 rcuad(np (1-P))
LCS= 120 x 0.0762 + 3 Rcuad (120 (0.07625)[1-0.07625])
LC= = 120 x 0.0762














Carta C y Upara defectos.

Carta C.
El objetivo es analizar la variabilidad del numero de defectos por subgrupo cuando el tamaño de este se mantiene constante.
En estacarta se grafica Ci que es igual al numero de defectos o eventos en el i-esimo grupo. Los limites de control se obtiene suponiendo que el estadistico Ci signodistribucion de poisson por lo tanto la distribuciones de la media y la desviacion estandar de este estadistico estan dadas por:
µi= c = total dedefectos/total de subgrupos
δ Ci= c.
LCS= c + 3* rcuad( c )
LC= c
LCI= c - 3* rcuad( c )
Ejemplo.
En una fábrica de muebles se inspecciona a detalle el acabado de lasmesas cuando salen del departamento de laca. La cantidad de defectos que son encontrados en cada mesa son registrados con el fin de conocer y mejorar elproceso. Es claro que estamos ante una variable que debe ser analizada con la carta C debido a que una misma mesa puede tener varios defectos de diferente tipo.