hola

República Bolivariana de Venezuela
Ministerio del Poder Popular para la Educación
U.E ­­“Doña Benilde”
5to “B”
Edo Miranda












Profesor: Integrantes:
Mircelys Anneris Annia. 23Michelle Aponte. 25
Mireilis Monterola. 21
José Torrellas. 28Silvana Pacheco. 33
Ariana Sojo. 36
Guatire, noviembre del 2013
Introducción
























Microscopio de efecto de campo
Es la forma más simple de microscopio electrónico. En este microscopio se utiliza un fuerte campo eléctrico para generar una emisión por efectode campo con obtención de imágenes. El primer microscopio fue construido en 1936, por el físico alemán Erwin Müller.
Contrariamente a esto que su nombre podría dejar pensar, no se trata de una técnica de imágenes habitual Esta técnica consiste en ionizar átomos de una muestra cristalina, en arrancarlos por un campo eléctrico muy potente, y en detectar su punto de impacto. Entonces, conociendo laforma del campo eléctrico, se puede saber dónde se encontraba el átomo sobre el cristal, y en consecuencia deducir información sobre la estructura de éste.


Emisión de Campo
La emisión de electrones bajo la influencia del campo electrostático de alta de un metal o un semiconductor en el vacío en la superficie se denomina como la emisión de campo. Este fenómeno fue reportado por primera vezpor RW Wood en 1897. Más tarde Schottky trató de explicar los fenómenos por una reducción completa de la altura de la barrera de potencial en la superficie hasta el nivel de Fermi. Sin embargo, no fue sino hasta 1928 que Fowler y Nordheim explicó (la teoría) de este fenómeno sobre la base de Tunnelling la mecánica cuántica de los electrones debido a la flexión de la barrera de potencial debido alcampo eléctrico externo aplicado.

Microscopio de emisión de campo (FEM)
Microscopio de la emisión del campo (FEM) es una técnica analítica usada dentro de la ciencia material para investigar las estructuras superficiales moleculares y sus características electrónicas. Inventado cerca Erwin Müller en 1936, el FEM era uno de los primeros instrumentos del análisis de la superficie que seacercaron cerca atómico resolución. FEM consiste en un emisor agudo de la aguja y un detector, tal como una pantalla fluorescente. Una negativa campo eléctrico se aplica al emisor, emitiendo electrones de la superficie. Una imagen se forma en el detector debido a las diferentes densidades corrientes, que origina de la diferencia en campos eléctricos y funciones del trabajo en la superficie delemisor por Ecuación de Fowler-Nordheim.
El fenómeno de emisión de campo se utilizó para desarrollar un microscopio sobre la base de la diferencia en workfunction de los aviones de cristal de diferentes en la superficie. El emisor se hace bajo la forma de un fuerte "punta" que produce intenso campo eléctrico a su alrededor. El campo eléctrico en el ápice de la punta es inversamente proporcional alradio si la punta. El campo emitido los electrones viajan a lo largo de las líneas del campo y la producción de manchas oscuras y brillantes en la pantalla fluorescente dando una correspondencia uno-a-uno con los planos de cristal del emisor hemisférico. En resumen, la anisotropía workfunction de los planos de cristal son proyectadas en la pantalla como las variaciones de intensidad. Esto actúa...