Informe 1

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Resumen—En esta práctica pusimos en ejercicio los conocmientos que aprendimos sobre familias lógicas y compuertas universales, especialmente las compuertas NOR.Para esto realizamos diferentes mediciones en las salidas parciales y finales de cada uno de los visualizadores; también, determinamos indirectamente los parámetros de corriente para los difetentes circuitos.

Palabras claves—Familialógica TTL y CMOS, Perfiles de tensión, Perfiles de corriente, Bit de menor peso (LSB), Bit de mayor peso (MSB), Salidas parciales, Salida total, Tabla de verdad.

I. DESARROLLO PRÁCTICO
Para el desarrollo de esta práctica implementamos la fucnion obtenida con compuertas universales, en nuestro caso compuertas OR de dos entradas, tanto para integrado de la familia TTL como de la familia CMOS.

Unavez realizado el montaje correspondiente, eleaboramos las debidas mediciones para las salidas parciales y la salida total, para cada una de las cuatro posibles combianciones para dos entradas; yasi efectuar el debidoanálisis entre los datos teóricos y los datos prácticos.

Después de elaborar las medicones del visualizador A, porcedemos con las mediciones de los otros visualizadores cuando lasalida de compuerta estaba en estado alto y estado bajo; con esto medir las tensiones en lso diferentes nodos y observar que pasaba con el diodo led en cada caso.

Posteriormente ejecutamos las mediciones de cada una de las resistencias, para con estas y los voltajes medidos decretar las diferentes corrientes que pasan por cada uno delos visualizadores.

Todos los datos medidos y cálculos fueronapuntados en als diferentes tablas.
II. ANALISIS DE RESULTADOS

Luego de realizar los respectivos análisis y de desarrollar la práctica en el laboratorio, comparamos los datos obtenidos en las salidas parciales y final con los datos de la tabla de verdad, encontrando una similitud en los dichos resultados, demostrando que están en los rangos permitidos de perfiles de tensión.
Cuando se realiza laprueba con un dispositivo de familia CMOS y debido a que el diodo le exige mucha corriente a la compuerta, esto ocacionaque los valores medidos estén muy cercanos a 5 V o algunas veces sobrepase esta barrera.


III. CUESTIONARIO
A Compare los resultados obtenidos en las salidas parciales y final con los niveles de voltaje alto y bajo dados en los perfiles de tensión para las entradas y salidas de lascompuertas lógicas TTL y CMOS.

Rta//: Comparando los resultados de las salidas parciales y de la salida final obtenidos en las mediciones con la tabla de verdad, observamos que existe relación entre ellos, ya que cuando las salidas están en alto o en bajo, las mediciones obtenidas se encentran en el rango establecido para cada nivel. Además analizamos que los datos logrados en las salidas parala CMOS son muchos altos, ya que eston están más cercanos a 5V mientras que los de la familia TTL están cercanos a 4.5V. Por otro lado, en las tensiones bajas pasa lo contrario, son más altas en TTL que en CMOS;pero siempre permanecen el los perfiles establecido para le 1 logico y el 0 logico.

B Compare los resultados de los voltajes medidos en las salidas parciales con la de la salida finalcuando dichas salidas se encuentran en alto y explique las diferencias que se presenten. Estas comparaciones se hace separadamente para los integrados de la familia TTL y la familia CMOS.

Rta//: Al comparar los voltajes de salidas parciales cuando están en alto, con respecto a la salida final, podemos afirmar que la salida final estará en alto solo si las salidas parciales X1 y X2 se encuentran enalto, tanto para las compuertas TTl y CMOS, como podemos ver en la respectiva tabla de tensiones. Para el resto cualquier salida parcial que este en alto, la salida final será baja. La única diferencia entre las familias lógicas, es que según los niveles lógicos de tensión las salidas del CMOS en alto serán un poco más elevadas que para las salidas de TTL.

C Compare los resultados obtenidos en...