Informe interferometro de michelson

DETERMINACIÓN DE LA LONGITUD DE ONDA DE UN LASER DE He –Ne CON EL INTERFERÓMETRO DE MICHELSON
DETERMINATION WAVE LENGTH OF A LASER He-Ne WITH MICHELSON’S INTERFEROMETER
J.Pérez2, B.Pereira2, O.Babilonia2, V.Morales2 , J.Amell 2 , F.Racedo1.
1Docente de Física Experimental IV (Universidad del Atlántico)
2Estudiantes de Física de la Facultad de Ciencias Básicas (Universidad del Atlántico)Universidad Del Atlántico Km7 vía Puerto Colombia Barranquilla-Atlántico

Resumen:
Un método practico que consiste en utilizar un interferómetro que funciona con el principio de Michelson para determinar la longitud de onda de un láser He-Ne. Para el desarrollo experimental hemos supuesto que el haz de luz suministrado por una fuente monocromática:
- Incidía sobre el divisor de haces M (fijo) elcual tiene una inclinación de 45 grados respecto al haz incidente.
- Incidía sobre los espejos M1 (móvil) y M2 (fijo) de forma paralela a la superficie de estos.

Un rayo se refleja hacia el espejo M1, mientras que un segundo rayo se transmite a través de M hacia el espejo M2. Por lo tanto, los rayos recorren por separado distancias diferentes L1 y L2. Después de reflejarse en M1 y M2,los dos rayos se combinan para producir un patrón de interferencia, el cual utilizamos una lente plano-convexa para ampliar la imagen y observar en una pantalla. La condición para que interfieran se determina por la diferencia de los caminos ópticos, el cual es posible al movimiento del espejo M1 que le está permitido desplazarse hacia delante y hacia atrás mediante un tornillo milimetrado.Palabras claves:
Interferómetro, Micrómetro, patrón de interferencia, haz de luz.

Abstract:
A practical method is to use an interferometer that works on theprinciple of Michelson to determine the wavelength of a He-Ne laser. Experimental development, we have assumed that the beam of light provided by a monochromatic source.
* Falling on the beam splitter M (fixed) which has an inclinationof 45 degrees to the incident beam.
* Falling on the mirrors M1 (mobile) and M2 (fixed) parallel to the surface of these.

One of the beams is reflected towards the mirror M1, while a second beam is transmitted through M to the mirror M2. Therefore, the rays travel different distances separate L1 and L2. After reflection on M1 and M2, the two beams combine to produce an interference pattern,which used a Plano-convex lens to magnify the image to watch on a screen. The condition to interfere is determined by the optical path difference, which is possible to move the mirror M1 is allowed to move forward and backward by a screw graph.

Keywords:
Interferometer, micrometer, interference pattern, beam
Objetivo General
* Determinar la longitud de onda de la luz emitida por un láser deHe-Ne.
Objetivos Específicos
* Manipular el interferómetro para obtener las diferentes distancias a un número de franjas de interferencias determinadas.
* Observar el patrón de interferencia de un haz de luz emitido por un laser He-Ne.
Introducción:
La interferencia de las ondas de luz es el resultado de la superposición lineal de dos o más ondas en un punto dado. Se observa un patrónde interferencia si:
1. Las fuentes son coherentes (la diferencia de fase entre ellas debe ser constante)
2. Las fuentes son monocromáticas (una sola longitud de onda)

3. Se aplica el principio de súper posición lineal.

El interferómetro, es un dispositivo ingenioso que divide un haz de luz en dos haces y los recombina para formar un patrón de interferencia después de recorrertrayectorias diferentes. Este dispositivo se puede utilizar para obtener medidas exactas de longitudes de onda o para medir longitudes con precisión.
Desde que Michelson y Morley usaron este dispositivo (el interferómetro) en 1887 para refutar la entonces teoría del éter, el interferómetro de Michelson es posiblemente el instrumento más difundido en lo que respecta a mediciones precisas de...