ingles
Páginas: 2 (389 palabras)
Publicado: 12 de junio de 2013
TECNICAS DE FABRICACIÓN
MÉTODO SONDA DE ELECTRONES
Una vez que los electrones interactúan con una muestra, los efectos secundarios en la forma de radiación (fotones), electrones, y elcalor se detectan y se transforman en imágenes o espectros Analiza la estructura de partículas extremadamente pequeñas.
Microscopio electrónico de barrido
(SEM)
Microscopía electrónica detransmisión
(TEM)
Espectroscopia de electrones Auger
(AES)
Características
Características
Permite la observación y caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos en escalas nanométricas ymicrométricas.
Tiene la capacidad de obtener imágenes tridimensionales de superficies en un amplio rango de materiales.
Crea una imagen que refleja las características superficiales de la misma,pudiendo proporcionar información de las formas, texturas y composición química de sus constituyentes.
Emite un haz de electrones dirigido hacia el objeto cuya imagen se desea aumentar.
Una parte delos electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de la muestra.
Debe cortarse la muestra en capas finas, no mayores de un par de milesde angstroms
Transmisión pueden aumentar la imagen de un objeto hasta un millón de veces.
Puesto que cada elemento tiene su espectro Auger característico, se pueden realizar análisis elementalescuantitativos.
El espesor de las capas superficiales que se pueden estudiar depende de los elementos que contenga pero típicamente son del orden de 5-25 Å.
Se ha convertido en un método estándar deanálisis en la caracterización elemental de superficies sólidas y capas delgadas.
Está basada en la medición de la energía cinética de los electrones emitidos
Equipo
Equipo
Equipo
En elmicroscopio electrónico de barrido (MEB) la muestra es recubierta con una capa de metal delgado, y es barrida con electrones enviados desde un cañón. Un detector mide la cantidad de electrones enviados...
TECNICAS DE FABRICACIÓN
MÉTODO SONDA DE ELECTRONES
Una vez que los electrones interactúan con una muestra, los efectos secundarios en la forma de radiación (fotones), electrones, y elcalor se detectan y se transforman en imágenes o espectros Analiza la estructura de partículas extremadamente pequeñas.
Microscopio electrónico de barrido
(SEM)
Microscopía electrónica detransmisión
(TEM)
Espectroscopia de electrones Auger
(AES)
Características
Características
Permite la observación y caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos en escalas nanométricas ymicrométricas.
Tiene la capacidad de obtener imágenes tridimensionales de superficies en un amplio rango de materiales.
Crea una imagen que refleja las características superficiales de la misma,pudiendo proporcionar información de las formas, texturas y composición química de sus constituyentes.
Emite un haz de electrones dirigido hacia el objeto cuya imagen se desea aumentar.
Una parte delos electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de la muestra.
Debe cortarse la muestra en capas finas, no mayores de un par de milesde angstroms
Transmisión pueden aumentar la imagen de un objeto hasta un millón de veces.
Puesto que cada elemento tiene su espectro Auger característico, se pueden realizar análisis elementalescuantitativos.
El espesor de las capas superficiales que se pueden estudiar depende de los elementos que contenga pero típicamente son del orden de 5-25 Å.
Se ha convertido en un método estándar deanálisis en la caracterización elemental de superficies sólidas y capas delgadas.
Está basada en la medición de la energía cinética de los electrones emitidos
Equipo
Equipo
Equipo
En elmicroscopio electrónico de barrido (MEB) la muestra es recubierta con una capa de metal delgado, y es barrida con electrones enviados desde un cañón. Un detector mide la cantidad de electrones enviados...
Leer documento completo
Regístrate para leer el documento completo.