Inspección por atributos

CONTENIDO
Introducción. 5
1. Conceptos fundamentales 6
1.1. Muestra 6
1.2. Muestreo representativo 6
1.3. Definición de inspección 6
1.4. Unidad del producto 6
1.5. Tiempo de muestreo 6
1.6. Interrupción de una inspección 7
1.7. Defecto 7
1.8. Falta de conformidad 7
1.9. Por ciento Defectivo 7
1.10. Defectos por cada cien unidades 7
2. Muestreo de aceptación 8
2.1. Concepto 8
2.2.Bajo el punto de vista estadístico 8
2.3. El objetivo 8
2.4. Aplicación 8
2.5. CUANDO APLICAR MUESTREO DE ACEPTACIÓN 10
2.6. VENTAJAS Y DESVENTAJAS. 10
2.6.1. Ventajas 10
2.6.2. Desventajas 10
2.7. Métodos de aceptación por muestreo 10
2.7.1. Muestra aleatoria: 10
2.7.2. Muestra estratificada: 10
2.7.3. Muestreo sistemático: 11
2.7.4. Muestreo Clúster: 11
2.7.5. Muestreo Best Judgment:11
3. TIPOS DE MUESTREOS DE ACEPTACIÓN 11
3.1. De acuerdo con la naturaleza de la población base 11
3.2. De acuerdo con la naturaleza de la característica inspeccionada 11
3.2.1. Por atributos 11
3.2.2. Por variables. 11
3.3. De acuerdo con el número de muestras a tomar 11
3.3.1. Simples. 11
3.3.2. Dobles. 11
3.3.3. Múltiple. 12
3.3.4. Secuencial. 12
4. PLANES DE MUESTREO. 12
5.MUESTREOS POR ATRIBUTOS. 12
5.1. Hay dos tipos 12
5.2. Planes por atributo 13
5.2.1. Plan de muestreo simple 13
5.2.2. Plan de muestreo doble 13
5.2.3. Plan de muestreo múltiple: 14
5.3. CAMPO DE APLICACIÓN 14
5.4. CURVA DE OPERACIÓN (CO). 14
5.4.1. Propiedades: 16
5.5. NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA) Y CALIDAD LÍMITE (CL) 17
5.5.1. NCA (AQL): NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE. 17
5.5.2. CL(CALIDAD LIMITE). En inglés QL (Quality Limit) o LTPD (Lot 17
Tolerance Percent Defective). 17
5.5.3. PDTL (RQL): 18
5.6. Puntos importantes de la curva de operación. 19
5.7. CURVA DE CALIDAD DE SALIDA MEDIA 19
5.8. MUESTREOS LOTE A LOTE: MIL-STD-105E 21
5.9. PLANES DE MUESTREO POR ATRIBUTOS DE USO CORRIENTE. 22
5.9.1. Sistema Philips. 22
5.9.2. Tablas de Dodge-Romig. 22
6. MUESTREOS PORVARIABLES. 22
6.1. Objetivo 22
6.2. Ventajas 22
6.3. Desventajas 23
6.4. SIGMA CONOCIDA Y UN SOLO LÍMITE DE TOLERANCIA 23
6.5. Tipos de planes de muestreo por variables 24
6.5.1. Procedimiento 1 o Método k 25
6.5.2. Procedimiento 2 o Método M 25
6.5.3. Military Standard 414 (MIL STD 414) 25
6.5.4. El MIL STD 414 consta de cuatro secciones que son: 26
6.6. Plan de muestreo para controlar lamedia del proceso o lote 26
6.7. Otros procedimientos de muestreo por variables 26
6.7.1. Muestreo secuencial de variables 26
6.7.2. Método del diagrama del lote 27
6.7.3. Calibración con límites estrechos 27
6.8. Tipos de Gráficos para Muestreo por Variables 27
9. MUESTREOS SECUENCIALES (CONTINUOS) 28
Conclusión 30
Bibliografía 31
Bibliografía del software 33

 
INTRODUCCIÓN.

Losmétodos estadísticos que se utilizan en la actualidad para el control de la calidad son muy importantes en la descripción de la variabilidad de los procesos de producción y fabricación de productos para el servicio del consumidor final.

El objetivo de los procesos estadísticos es poder llevar a cabo decisiones sobre la aceptación o rechazo del producto, para esto se puede llevar mediante loque llamamos MUESTREO DE ACEPTACIÓN que se aplica a un conjunto o lotes de unidades del producto.

En este texto encontrara conceptos que se deben tener presentes para poder realizar el muestreo de aceptación, así como su concepto, objetivo, aplicaciones ventajas, desventajas, métodos, tipos, clasificación que son por variables y atributos , los planes que se aplican. 
1. CONCEPTOSFUNDAMENTALES
1.1. MUESTRA
Consiste en una o más unidades del producto que se tomen de un lote o de una producción unitaria, estas unidades de la muestra deberán ser tomadas al azar sin aferrarse su calidad.
El número de unidades del producto dentro de la muestra se denomina tamaño de la muestra.
1.2. MUESTREO REPRESENTATIVO
Siempre que sea posible, el número de unidades en la muestra se debe...