La metrolog a ptica y sus aplicaciones

Acta Universitaria
ISSN: 0188-6266
actauniversitaria@ugto.mx
Universidad de Guanajuato
México

Malacara Hernández, Daniel
La metrología óptica y sus aplicaciones
Acta Universitaria, vol. 15, núm. 1, enero-abril, 2005, pp. 5-12
Universidad de Guanajuato
Guanajuato, México

Disponible en: http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=41615101

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Guanajuato, Gto., México

La Metrología Óptica y sus
Aplicaciones*.

RESUMEN / ABSTRACT
En este trabajo se presenta una introducción al campo de lametrología
óptica y de su herramienta principal
que es la interferometría. También se
presenta un panorama de los diferentes métodos empleados en metrología
describiendo con especial detalle los
avances más recientes en este campo.

In this work an introduction to
optical metrology is presented with a
brief description of its main tool
which is interferometry. Also, a
survey of the main different methodsused in optical metrology is described
with a special emphasis on the most
recent developments.

CURRICULUM VITAE
Daniel Malacara-Hernández recibió su
Doctorado en Óptica en la University
of Rochester. Es Fellow de la Optical
Society of America y de la International
Society for Optical Engineering.
Su campo dentro de la óptica es la
ingeniería óptica, en especial la
interferometría y las pruebasópticas.
Su obra científica incluye la publicación de alrededor de ciento veinte artículos de investigación y de varios libros
en ingeniería óptica.
Ha recibido varios reconocimientos a
su labor, entre los cuales están el A. E.
Conrady
Award
for
Scientific
Achievement, de la International Society
for Optical Engineering, U.S.A., en
1994, el Premio Galileo Galilei, de la
International Commission forOptics en
1997 y el Premio Nacional de Tecnología y Diseño, otorgado por el Gobierno
Federal de México, en 1976.

* Artículo por invitación.
** Centro de Investigaciones en Óptica, A. C. Loma del Bosque 115.
León, Gto. Correo electrónico:
dmalacara@cio.mx

Daniel Malacara Hernández**.

INTRODUCCIÓN

P

or múltiples razones prácticas el hombre cada vez más tiene
la necesidad de medir propiedadesfísicas con más precisión.
En su solución viene la óptica como una herramienta maravillosa con la cual se pueden tomar medidas pequeñísimas no
imaginables por otros medios. Una de las propiedades físicas mas
necesarias de medir es la topografía de superficies. Aquí mencionaremos algunos de los métodos mas frecuentemente empleados y
algunas de sus principales aplicaciones.
En algunas aplicaciones esnecesario medir la forma absoluta de
la superficie, por ejemplo, si se desea saber si una superficie plana
de algún instrumento es realmente plana y cuanto se desvía de ese
ideal. Otro caso es la medición de la forma de las superficies de la
lente o los espejos de los instrumentos ópticos. Aquí la superficie
no debe desviarse de la forma teórica ideal más de una pequeña
fracción de la longitud de ondade la luz, que es lo que se usa
como unidad de longitud, en lugar de usar milímetros o pulgadas.
La longitud de onda de la luz depende del color de la luz, pero
para el rojo de los láseres de gas es de 632 nanómetros, o lo que es
lo mismo, 6.32 diezmilésimos de milímetro. En el caso de las
lentes o espejos de instrumentos de alta precisión típicamente el
error permitido no es mayor de un cuartode longitud de onda. La
situación se complica todavía más cuando esta superficie óptica es
de grandes dimensiones, como en el caso de los instrumentos
astronómicos. La lente principal u objetivo de un telescopio astronómico profesional tiene un diámetro de algunos metros. Su
superficie ni siquiera es esférica, sino que tiene la forma de un
hiperboloide de revolución. Un ejemplo notable muy...