La microscopía de iones en campo

La microscopía de iones en campo (FIM) es una técnica analítica empleada en ciencia de materiales. El microscopio de iones en campo es una variedad de microscopio que puede ser usado para visualizarla ordenación de los átomos que forman la superficie de la punta afilada de una aguja de metal. Fue la primera técnica con la que se consiguió resolver espacialmente átomos individuales. La técnicafue desarrollada por Erwin Müller. En 1951 se publicaron por primera vez imágenes de estructuras atómicas de tungsteno en la revista Zeitschrift für Physik.
En que se basa el microscopio de campoionico
Es un desarrollo del microscopio de emisión es el de campo iónico, en el cual la punta esta rodeada por helio a baja presión. El gas se ioniza en los planos atómicos de la punta y produce una imagenque puede tener un aumento hasta diez millones de magnitudes: este tipo de microscopio se ha aplicado principalmente al estudio de metales y semiconductores, pero también se han obtenido algunasimágenes biológicas.
Un desarrollo más del microscopio de campo iónico es la sonda atómica. En este instrumento los átomos individuales se remueven de la punta con campo eléctrico pulsante. Los átomospasan a través de un espectrómetro de tiempo de vuelo, que mide su energía y la relación carga/masa. De esta manera, se puede determinar la naturaleza química de cada átomo en la imagen del campoeléctrico.
En la FIM, se produce una aguja de metal afilada y se coloca en una cámara de ultra alto vacío, que después se llena con un gas visualizador tal como el helio o el neón. La aguja se enfría hastaalcanzar temperaturas criogénicas (20-100 K). Luego se aplica un voltaje positivo que va de 5.000 a 10.000 voltios sobre la punta. Los átomos de gas absorbidos por la punta se ven ionizados por el fuertecampo eléctrico que existe en las proximidades de ella. La curvatura de la superficie cercana a la punta provoca una magnetización natural; los iones son repelidos bruscamente en dirección...