medicion

NMX-Z-12-2-1987

SECRETARIA DE COMERCIO
Y
FOMENTO INDUSTRIAL
NORMA MEXICANA
NMX-Z-12-2-1987
MUESTREO PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS–PARTE 2:
METODOS DE MUESTREO, TABLAS Y GRAFICAS
SAMPLING FOR INSPECTION BY ATTRIBUTES – PART 2: SAMPLING
PROCEDURES, TABLES AND GRAHPS.

DIRECCION GENERAL DE NORMAS
CONTENIDO

NMX-Z-12-2-1987

1. OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION
2. PREFERENCIAS
3.DEFINICIONES
4. CLASIFICACION DE DEFECTOS Y UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS
5. PORCENTAJE DE UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Y DEFECTOS
POR CIEN UNIDADES DE PRODUCTO.
6. NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA)
7. PRESENTACION DEL PRODUCTO PARA SU INSPECCION
8. ACEPTACION O RECHAZO.
9. EXTRACCION DE MUESTRAS
10. INSPECCION NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA.
11. PLANES DE MUESTREO
12. CRITERIO DEACEPTACION.
13. INFORMACION SUPLEMENTARIA.
14. TABLAS Y GRAFICAS PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS.
I
LETRAS CLAVE CORRESPONDIENTES AL TAMANO DE LA MUESTRA
II-A PLANES DE MUESTREO SENCILL.0 PARA INSPECCION NORMAL
II-B PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION RIGUROSA
II-C PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION REDUCIDA
III-A PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPEGCION NORMAL
III-BPLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION RIGUROSA
III-C PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION REDUCIDA
IV-A PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION NORMAL
IV-B PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA
IV-C PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION REDUCIDA
V-A FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA
V-B FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDAPARA INSPECCION RIGUROSA
VI-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA CUAL
Pa=10%

NMX-Z-12-2-1987

VI-B CALIDAD LIMITE (EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES) PARA LA
CUAL Pa=10%
VII-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA CUAL
Pa=5%
VII-B CALIDAD LIMITE (EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES)PARA LA
CUAL Pa=5%
VIII NUMEROS LIMITES PARA INSPECCION REDUCIDA
IX CURVASDEL TAMAÑO PROMEDIO DE LAS MUESTRAS PARA
MUESTREOS
DOBLE Y MULTIPLE
PLANES DE MUESTREO Y CURVAS DE OPERACION CARACTERISTICAS
X-A
X-B
X-C
X-D
X-E
X-F
X-G
X-H
X-J
X-K
X-L
X-M
X-N
X-P
X-Q
X-R

TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE A
TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE B
TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE C
TAMAÑO DE LA MUESTRACORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE D
TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE E
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE F
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE G
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE H
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE J
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE K
TAMAÑO DE LA MUESTRACORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE L
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE M
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESFONDIENTE A LA LETRA CLAVE N
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE P
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE Q
TAMAÑO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE R

MUESTREO PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS–PARTE 2: METODOS DE
MUESTREO,TABLAS Y GRAFICAS
SAMPLING FOR INSPECTION BY ATTRIBUTES – PART 2: SAMPLING
PROCEDURES, TABLES AND GRAHPS.

NMX-Z-12-2-1987

1.

OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION

Esta parte de la norma establece las definiciones de los conceptos básicos, los planes de
muestreo, las tablas y las gráficas para la inspección por atributos, con el fin de permitir el
mutuo entendimiento sobre bases estadísticascomunes entre proveedores y compradores.
Los planes de muestreo de esta norma se aplican pero no se limitan a la inspección de:
- productos terminados;
- componentes y materias primas;
- operaciones;
- materiales en proceso;
- materiales almacenados;
- operaciones de mantenimiento;
- datos y registros;
- procedimientos administrativos.
2

REFERENCIAS

Para la correcta aplicación de...