METROLOGIA PARA NO METROLOGOS
NO-METRÓLOGOS
Segunda Edición
Rocío M. Marbán
Julio A. Pellecer C.
2002
Para contactar a los autores dirigirse a:
2001 Producción y Servicios Incorporados S.A.
Calzada Mateo Flores 5-55, Zona 3 de Mixco
Guatemala, Centro América
Tel.: (502)591-0662
Fax: (502)594-0692
email: psi2001@osint.net
psi2001@itelgua.com
ISBN 99922-770-0-9
© OEA, 2002
E stasegunda edición revisada es publicada con el
patrocinio del SIM.
El S istema Interamericano de Metrología, Normalización, Acreditación y Calidad, SIM , es la organización regional de metrología para las Américas. Está
conformado por los institutos nacionales de metrología de
los 34 países miembros de la Organización de los
Estados Americanos, OEA, la cual funge como su
Secretaría Ejecutiva.
Lasopiniones expresadas en este documento no son
necesariamente opiniones de la OEA, de sus órganos o
de sus funcionarios.
Metrología para no-metrólogos
iv
CONTENIDO
Agradecimientos
Presentación
vii
ix
Introducción
1
Qué se mide y cómo
Caracterización de la metrología
Léxico
11
20
21
Aplicaciones - Qué se mide y para qué
Longitud
Masa
Temperatura
Tiempo &frecuencia
Electricidad & magnetismo
Fotometría & radiometría
Acústica y vibración
Radiación ionizante
Química
29
29
30
31
32
33
35
36
36
37
Patrones y materiales de referencia
Introducción
Longitud
Masa
Temperatura
Tiempo & frecuencia
39
39
41
47
55
65
v
Metrología para no-metrólogos
Electricidad & magnetismo
Fotometría & radiometría
Acústica y vibraciónRadiación ionizante
Química
75
81
87
95
101
Referencias
111
Anexo I
Constantes físicas fundamentales y
su relación con las unidades básicas
118
Anexo 2
Algunas unidades SI derivadas
120
Anexo 3
Múltiplos y submúltiplos más
comunes para uso con el SI
123
Anexo 4
Científicos relacionados con la
electricidad
124
Anexo 5
Radionuclídeos – conceptosbásicos
127
vi
AGRADECIMIENTOS
Muchas personas y entidades han colaborado para
hacer posible esta publicación. En primer lugar, la
Organización de los Estados Americanos, OEA, y la
Cooperación Alemana para el Desarrollo, GTZ, que
consideraron que un libro de este tipo podía resultar útil.
Los autores desean agradecer la ayuda recibida del
Bureau International des Poids et Mesures(BIPM);
del Dr. Gérard Geneves del Laboratoire Central des
Industries Eléctriques du Bureau National de
Métrologie de Francia (BNM-LCIE); del Dr. Duncan
Jarvis, Acoustical and Noise Standards, del National
Physical Laboratory de Inglaterra (NPL, UK); del Dr.
Hans-Jürgen von Martens, de la sección “Aceleración” del Physikalisch-Technische Bundesanstalt
(PTB) de Alemania, del Ing. LesterHernández de
COGUANOR en Guatemala. Asimismo, el National
Institute of Standards and Technology de los EUA,
NIST, por intermedio del Dr. Steve Carpenter, Director de Asuntos Internacionales y Académicos, tuvo la
gentileza de proporcionar ejemplares de sus publicaciones especializadas.
Muy particularmente, desean destacar la excelencia
científica del Centro Nacional de Metrología de
viiMetrología para no-metrólogos
México (CENAM) y la contribución de su Director,
Dr. Héctor Nava Jaimes y de todo el personal profesional de esa entidad, que tuvo la gentileza de
transmitir, ampliamente y sin reserva, sus
conocimientos y sus formas de trabajo. Las
modificaciones hechas a esta segunda edición
responden a sugerencias de personal del CENAM.
Agradecemos en particular al Dr. IsmaelCastelazo
Sinencio, Director de Servicios Tecnológicos y al
M .en C. Rubén Lazos, Coordinador Científico, ambos del CENAM, y al Dr. Luis Mussio, Jefe de
Metrología del Laboratorio Tecnológico del Uruguay
(LATU), sus valiosas observaciones.
El contenido de esta publicación es responsabilidad
únicamente de los autores.
Marzo 2002
viii
PRESENTACIÓN
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