Metrologia

Páginas: 30 (7395 palabras) Publicado: 2 de abril de 2011
2009 Informe de Proceso de Metrología

DIEGO ARMANDO ESPITIA COBOS UNIVERSIDAD SANTO TOMAS 01 de enero de 2009

INFORME DE PROCESO DE METROLOGÍA

DIEGO ARMANDO ESPITIA COBOS

UNIVERSIDAD SANTO TOMAS DE AQUINO FACULTAD DE INGENIERÍA MECÁNICA BOGOTÁ, CUNDINAMARCA 6 DE OCTUBRE DE 2009

INFORME DE PROCESO DE METROLOGÍA

DIEGO ARMANDO ESPITIA COBOS

ING. NELSON JAVIER ROJAS MANCIPEUNIVERSIDAD SANTO TOMAS DE AQUINO FACULTAD DE INGENIERÍA MECÁNICA BOGOTÁ, CUNDINAMARCA 6 DE OCTUBRE DE 2009

INTRODUCCIÓN

La Metrología es una ciencia que tiene por objetivo el estudio de la medida, en tanto a lo que se le atribuye exactitud, y tomando los diferentes sistemas de medidas que se utilizan en cualquier campo de la ciencia, asimismo pretende que se cumpla con claridad lasespecificaciones y procesos de calibración a partir de los estudios realizados por diferentes organizaciones, específicamente para Colombia y la base de la norma ICONTEC para los diferentes instrumentos de medición que se fundamenta a partir de la International Organization for Standarzation (ISO), que serán estudiados en este informe de proceso de calibración.

Básicamente la metrología tiene doscaracteres fundamentales como los son el resultado de la medición y la incertidumbre de medida, las cuales se obtendrán a partir de datos obtenidos en el laboratorio, en este informe se tiene como objetivo general identificar y analizar los diferentes sistemas de medida específicamente SI y el sistema Ingles, como objetivos específicos es conocer cuatro instrumentos de medida, que son: Pie de Rey,Micrómetro, Calibrador de Alturas y el Comparador de caratulas, el conocer abarca partes, sistema de medida que maneja, rango y apreciación, aparte de conocer, fundamentar las funciones básicas de estos instrumentos de medición.

la metrología aparte de ser una ciencia que se fundamenta en el estudio de la medida, también tiene como objetivo la equivalencia internacional de las mediciones ypor lo cual permite el intercambio de los productos a nivel global, asi mismo permite que grandes industrias posean la exactitud de las mediciones con el fin de establecer por medio de la metrología ensayos, certificación y acreditación de procesos de calibración.

OBJETIVO GENERAL

Identificar y analizar los diferentes sistemas de medida específicamente Sistema Internacional de Unidades y elSistema Anglosajón de Unidades, encontrando la interrelacionalidad de estos dos sistemas, ya que son los dos sistemas usados en los instrumentos de medición que se emplearon en la obtención de datos en el laboratorio, mediante los instrumentos de medición: Pie de Rey, Micrómetro, Calibrador de Alturas y el Comparador de Caratulas.

OBJETIVOS ESPECÍFICOS

Definir y analizar las característicasde cada uno de los instrumentos de medición empleados en los ensayos de medida y calibración, dentro de la definición se permite especificar su función y análisis de su aplicación, las partes, la apreciación y rango de cada uno.

A partir de la norma técnica colombiana NTC 4219 (Comparadores de Caratula con Indicación Mecánica) realizase el ensayo de mediciones.

A partir de la norma técnicacolombiana NTC 4303 (Pie de Rey. Requisitos y Ensayo) realizase el ensayo de mediciones.

Determine un análisis de los datos obtenidos a partir de las mediciones realizadas en el laboratorio de metrología en el cual se determine el error en la medición realizada.

INFORME DE PROCESO DE METROLOGÍA

1. METROLOGÍA.
La metrología es definida por la Oficina Internacional de Pesas y Medidas(BIPM) como "la ciencia de la medición, que abarca tanto las determinaciones teóricas y experimentales en cualquier nivel de incertidumbre en cualquier campo de la ciencia y la tecnología". La ontología y el vocabulario internacional de metrología (VIM) es gestionada por la Organización Internacional de Normalización.

La metrología es un campo muy amplio y puede ser dividida en tres subcampos:...
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