Microscopia Electrónica De Barrido


Microscopia electrónica de barrido
El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB), permite que se observe las características de estructuras de materiales orgánicos e inorgánicos gracias al aumentoque este tiene el cual es de 200000 diámetros, esto es posible debido a un campo magnético que permite enfocar los rayos catódicos o bien los electrones.El primer microscopio electrónico de barrido se construyó en 1938 por Von Ardenne.
Parte instrumental
El MEB consta de lassiguientes partes: 
1. Cañón de electrones (e-). 
2. Filamento de tungsteno o de hexaboruro de lantano-LaB6. 
3. Anodo. 
4. Columna en vacío. 
5. Lentes condensadores (centran y dirigen el rayo deelectrones). 
6. Lentes Objetivas (controlan la cantidad de electrones del haz). 
7. Detectores para colectar y medir electrones (producción de imagen). 
8. Bobinas de barrido (obligan al haz a barrer lamuestra). 
9. Control de aumento. 
10. Generador de barrido. 
11. Colector de electrones (electrones  se atraen y se aceleran). 
12. Escintilador (convierte la energía cinetica de los e- en luzvisible). 
13. Amplificador. 
14. Pantalla (imagen). 
15. Bombas de vacío.


Tipo de métodos de microscopia
Para la realización y preparación de muestras en un Microscopio Electrónico deben hacerse cortes ultradelgados de células individuales y montarse estos cortes sobre rejillas especiales para permitir el paso de los electrones. El mecanismo formador de imágenes en el microscopio electrónico estotalmente distinto del microscopio compuesto. En lugar de la absorción, refracción y proyección de una imagen a través de un ocular, directamente a la retina, en el microscopio electrónico el objetodispersa el haz electrónico. Esta dispersión provoca varios grados de excitación en una serie de proyectores, amplificadores, bobinas, etc., hasta que finalmente una pantalla fluorescente absorbe esas...