Microscopia Electronica De Barrido Expo

UNIVERSIDAD
TECNOLÓGICA DE TABASCO
DIVISIÓN PROCESOS INDUSTRIALES
ING. MANTENIMIENTO INDUSTRIAL
ENSAYOS DESTRUCTIVOS
Profesor: Ing. Erwin Jerónimo García
Presentación:
“Microscopia Electrónica deBarrido”
Alumnos:
Daniel Méndez de la Cruz
Daniel Morales García
Jonathan Sanguino Méndez
Manuel Ordaz García
Alejandro Carrera
Iván Isaac Priego
Grado: 2do

Grupo. “B”

Hoy en día la MicroscopíaElectrónica
es una poderosa herramienta que
permite
la
caracterización
de
materiales utilizando para ello un haz
de electrones de alta energía que
interactúa con la muestra.

Puede mostrar desde la forma deun
cristal hasta el ordenamiento de los
átomos en una muestra .

Técnica de uso habitual por los
investigadores que trabajan en las
Ciencias
Físicas,
Químicas
o
Biológicas
es importante observar,analizar y explicar fenómenos que
ocurren a nano-escala.

La utilización de la Microscopia Electrónica de Barrido es de
gran importancia en el estudio de las superficies de fractura de
un material,debido principalmente a la profundidad de campo
que este posee.
Mediante esta técnica se puede observar la muestra a distintos
aumentos, para analizar diferentes aspectos de la morfología
de esta. Con esteanálisis se pueden encontrar indicios de un
posible comportamiento a la fractura de la aleación estudiada.

El microscopio electrónico de barrido (SEM) es
el mejor método adaptado al estudio de lamorfología de las superficies.
A diferencia de un microscopio óptico que utiliza
fotones del espectro visible, la imagen
entregada por el SEM se genera por la
interacción de un haz de electrones que"barre"
un área determinada sobre la superficie de la
muestra.

El
microscopio
electrónico de barrido
(SEM) es un instrumento
para obtener fotografías
tridimensionales debido a
que
tiene
una
altaresolución y una gran
profundidad de campo.
En las fotografías se
puede apreciar la ultraestructura de muestras
microscópicas detallando
de
manera
extraordinaria,
sus
características
morfológicas
y...