Microscopia Electronica de Barrido (MEB)

Microscopia Óptica de Barrido

La microscopía electrónica de barrido o SEM se basa en el principio de la microscopia óptica en la que se sustituye el haz de luz por un haz de electrones. Con esto conseguimos hasta 100 Armstrong, resolución muy superior a cualquier instrumento óptico.
Su funcionamiento consiste en hacer incidir un barrido de haz de electrones sobre la muestra. La muestra(salvo que ya sea conductora) esta generalmente recubierta con una capa muy fina de oro o carbón, lo que le otorga propiedades conductoras. La técnica de preparación de las muestras se denomina “sputtering” o pulverización catódica.
Al alcanza el haz la superficie de la muestra se generan principalmente las siguientes partículas:
Electrones retro dispersados (e1)
Electrones secundarios (e2)
Ademásde radiación electromagnética (rayos x) y otras partículas menos significativas.
El microscopio se encuentra internamente equipado con unos detectores que recogen la energía y la transforman en las siguientes imágenes y datos:

Detector de electrones secundarios: (SEI – Secundary Electron Image) con los que obtenemos las imágenes de alta resolución.
Detector de electrones retrodispersados:(BEI – Backscattered Electron Image) con menor resolución de imagen pero mayor contraste para obtener topografía de la superficie.
Detector de energía dispersiva: (EDS – Energy Dispersive Spectrometer) detecta los rayos X generados y permite realizar un análisis espectro gráfico de la composición de la muestra.


Descripción del Equipo
El MEB consta de las siguientes partes: 
1. Cañón deelectrones (e-). 
2. Filamento de tungsteno o de hexaboruro de lantano-LaB6. 
3. Ánodo. 
4. Columna en vacío. 
5. Lentes condensadores (centran y dirigen el rayo de electrones). 
6. Lentes Objetivas (controlan la cantidad de electrones del haz). 
7. Detectores para colectar y medir electrones (producción de imagen). 
8. Bobinas de barrido (obligan al haz a barrer la muestra). 
9. Control deaumento. 
10. Generador de barrido. 
11. Colector de electrones (electrones  se atraen y se aceleran). 
12. Escintilador (convierte la energía cinética de los e- en luz visible). 
13. Amplificador. 
14. Pantalla (imagen). 
15. Bombas de vacío.



Diagrama de funcionamiento
La muestra es colocada en un pequeño espacio, al cual se le hace vacío después de cerrada la puerta. La puerta tienetres palancas que el operador usa para: subir y bajar la muestra, rotar la muestra y acercarla o alejarla.
Un haz delgado de electrones, es producido en la parte superior del microscopio por medio del calentamiento de un filamento metálico (10-30 KV). El rayo de electrones primarios sigue un recorrido a través de la columna de vacío del microscopio, esto, con el propósito, de evitar la dispersiónde los electrones. El trayecto del haz de electrones es enseguida modificado por un conjunto de bobinas deflectoras que lo hacen recorrer la muestra punto por punto y a lo largo de líneas paralelas (barrido), y a su vez atraviesa las lentes condensadoras o electromagnéticas que le permiten ser reenfocado o centrado hacia la muestra. Posteriormente, el diámetro del haz de electrones puede sermodificado al pasar por las lentes objetivas que controlan la cantidad de electrones dentro de este. Cuando los electrones primarios golpean la muestra, son emitidos electrones secundarios por el propio espécimen. Estos electrones secundarios son atraídos por un colector donde se aceleran y se dirigen al escintilador, donde la energía cinética Es convertida en puntos de mayor o de menor luminosidad,es decir, en luz visible. Esta luz es dirigida a un amplificador donde se convierte en señal eléctrica, la cual pasa a una pantalla de observación donde la imagen  es formada línea por línea y punto por punto. Los circuitos que dirigen las bobinas de barrido (que obligan al haz a barrer la muestra), son las mismas que dirigen la parte de colección de electrones y que producirán la imagen....