microscopio

Objetivo.


Aprender y conocer el microscopio, así como sus partes uso y funcionamiento del mismo.







































Introducción
En su afán de llegan siempre más lejos en la investigación de la naturaleza de lo que los límites de sus órganos sensoriales le imponen, el hombre ha construido múltiples instrumentos que lehan permitido acceder allí donde los sentidos no podían penetrar.
Así como el telescopio abrió a la humanidad las puertas de lo infinitamente grande, el microscopio hizo posible conocer los mundos de dimensiones ínfimas, entre ellos la célula, base de la vida. Se contaban así las bases de las modernas ciencias biológicas que hasta bien entrada la edad moderna se habían fundado en las observacionesdirectas.
Los microscopios son aparatos que, en virtud de las leyes de formación de imágenes ópticas aumentadas a través de lentes convergentes, permiten la observación de pequeños detalles de una muestra dada que a simple vista no se percibirían.



























Microscopio
El microscopio (del prefijo micro- y el sufijo -scopio, y estos del prefijo griegoμικρο- micro-, ‘muy pequeño’, y la raíz griega σκοπ- scop-, ‘ver’)1 es un instrumento que permite observar objetos que son demasiado pequeños para ser vistos a simple vista. El tipo más común y el primero que se inventó es el microscopio óptico. Se trata de un instrumento óptico que contiene dos o más lentes que permiten obtener una imagen aumentada del objeto y que funciona por refracción.La ciencia que investiga los objetos pequeños utilizando este instrumento se llama microscopía.y la refracción se podían modificar con combinaciones adecuadas de dos o más medios ópticos, se lanzan al mercado objetivos acromáticos excelentes.
Fundamentos del Equipo.
Microscopía de Fuerza Atómica
La Microscopía de fuerza atómica (AFM) es un método para medir la topografía de una superficie aescala micrométrica a nanométrica. Esta técnica también se ha ampliado para permitir la medición de muchas otras propiedades de la superficie.
El microscopio de fuerza atómica (AFM) sondea la superficie de una muestra con una punta afilada de un par de micrones de largo y menos de 100 Å de diámetro. La punta está situada en el extremo libre de un cantiléver o micro viga que es aproximadamente de100 a 200μm de largo. Las fuerzas entre la punta y la superficie de la muestra causan que el cantiléver se dobla o deflécte. Un detector mide la deflexión del cantiléver y la forma como la punta escanea la superficie de la muestra. Las medidas de deflexión del cantiléver permiten a un computador  generar un mapa de la topografía de la superficie.
Microscópía de Fuerza Magnética (MFM)
 Lasimágenes de Microscopía de fuerza magnética (MFM) miden la variación espacial de las fuerzas magnéticas en una superficie de la muestra. Para MFM, la punta está recubierta con una película delgada ferromagnética. El sistema opera en modo de no contacto, detectando los cambios en la frecuencia de resonancia del cantiléver inducido por la dependencia del campo magnético en la separación de punta a lamuestra. La MFM se puede utilizar para imágenes de muestras de origen natural y para escribir estructuras de dominio en materiales magnéticos.

(a) Imagen topográfica representativa d una pelicula de (Ga,Mn)N.  (b y c) Corresponientes imágenes MFM tomadas a temperatura ambiente.
M.-H. Ham et al. / Applied Surface Science 252 (2006) 6289–6293
 
Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
La microscopíade fuerza lateral (LFM) se ha utilizado para caracterizar viscosidad superficial y las fuerzas de fricción, desde que fue desarrollado por Mate y otros en 1987. En general, la LFM fue presentada como una técnica de medición de las fuerzas de fricción a escala atómica. La información que puede obtenerse a partir de LFM incluye las interacciones de fricción y adhesión.Topografía representativa...