Microscopio

Microscopio de campo iónico

La microscopía de iones en campo (FIM) es una técnica analítica empleada
en ciencia de materiales. El microscopio de iones en campo es una
variedad demicroscopio que puede ser usado para visualizar la
ordenación de los átomos que forman la superficie de la punta afilada de
una aguja de metal. Fue la primera técnica con la que se consiguióresolver
espacialmente átomos individuales. La técnica fue desarrollada por Erwin
Müller. En 1951 se publicaron por primera vez imágenes de estructuras
atómicas de tungsteno en la revistaZeitschrift für Physik.
En que se basa el microscopio de campo iónico
Es un desarrollo del microscopio de emisión es el de campo iónico, en el
cual la punta esta rodeada por helio a baja presión.El gas se ioniza en los
planos atómicos de la punta y produce una imagen que puede tener un
aumento hasta diez millones de magnitudes: este tipo de microscopio se
ha aplicado principalmenteal estudio de metales y semiconductores, pero
también se han obtenido algunas imágenes biológicas.
Un desarrollo más del microscopio de campo iónico es la sonda atómica.
En esteinstrumento los átomos individuales se remueven de la punta con
campo eléctrico pulsante. Los átomos pasan a través de un espectrómetro
de tiempo de vuelo, que mide su energía y la relacióncarga/masa. De esta
manera, se puede determinar la naturaleza química de cada átomo en la
imagen del campo eléctrico.

CONCLUSIÓN
Al contrario que los microscopios convencionales, donde laresolución
espacial se ve limitada por la longitud de onda de las partículas empleadas
en la visualización, el microscopio basado en el campo ionico funciona por
proyección y alcanza resolucionesatómicas, con una magnificación
aproximada de unos pocos millones de aumentos.
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