Microscopía

OBJETIVOS
El objetivo de esta práctica es observar diversas probetas a través de microscopios electrónicos: ya sean de transmisión como de barrido, en la que podemos distinguir el TEM TransmissionElectron Microscope y el SEM Scanning Electron Microscope.
TEORÍA Y MÉTODOS DE USO
Nos basaremos la explicación teórica en los llamados microscopios electrónicos (TEM, SEM), que utilizan una seriede electrones para formar una imagen, resultando aumentos del orden de mil con gran resolución en una gran profundidad de campo, haciendo posible observar estructuras y detalles en una gran parte dela muestra que no se podría hacer en los microscopios ópticos.
Por lo que se refiere al microscopio electrónico de barrido, genera la imagen a partir de la reflexión del haz de electrones, que esacelerado por un campo eléctrico para que disminuya su longitud de onda, obteniendo una mejor resolución, y que es bombardeado hacia la probeta, después de pasar por un conjunto de lentes(condensadora-objetiva). Ese haz de electrones se verá reflejado tras ser barrido por unas bobinas.
El SEM está dotado de una sonda que emite rayos X, pudiendo obtener instantáneamente la microestructura de un puntode la muestra, mientras observamos su micrografía.
Este tipo de muestras no deben tener una preparación previa mayor a ser de un material conductor, para poder alterar en ella los electrones ypoder observar los resultados. De no ser un material conductor, podemos aplicar una capa nanométrica conductora “sputtering” (conocido en castellano como pulverización catódica).
En los microscopioselectrónicos de transmisión, aunque la imagen también se crea por una haz de electrones, no son reflejados, si no que el haz actúa de proyector, colocándose la probeta entre detector y microscopio. Todoesto no debe confundir la metodología del TEM, que no se basa sólo en los electrones que atraviesan la muestra, sino que debe pasar una serie de lentes hasta finalmente formar la imagen. Esta imagen...