Muestreo

CAPITULO 1
MUESTREO POR ATRIBUTOS

El método o inspección por atributos consiste en examinar una unidad de producto o caracteristica y clasificarla como “buena” o “defectuosa”.
La acción atomar después de esto se decide contando el número de defectuosas encontradas.
El objetivo de la inspección para la aceptación es la de decidir si un lote de producto debe o no ser aceptado, habiendosefijado de antemano las características que definan el plan de muestreo (nivel de calidad aceptable, la calidad límite y los riesgos del productor/consumidor).
1.1 GENERALIDADES
El muestreo poratributos se puede aplicar a lotes aislados o serie homogéneas de lotes. En el primer caso la población es finita y se rige por la distribución hipergeométrica (muestreo de tipo A), aunque para lotesgrandes se puede aproximar por la binomial. En el segundo caso se supone la población compuesta de infinitos elementos y por tanto se rige por la distribución binomial (muestreo de tipo B). En elcaso que el muestreo sea por número de defectos, la función a aplicar es la de Poisson, independientemente que se trate de un
lote aislado o una serie de lotes.

1.2 CURVA DE OPERACIÓN
Un plan demuestreo se caracteriza por su CURVA DE OPERACION. En el eje de abscisas OX se representa la fracción defectuosa p del lote a inspeccionar (o el número de defectos medio m en el caso de contabilizardefectos). En el eje de ordenadas OY se representan las probabilidades de
aceptación de los lotes de esas características. Evidentemente P(0) = 1 y P(1) =0.
En el caso de planes de muestreos simples,la ecuación de la CO se calcula
simplemente a partir de la función de distribución aplicable. Por ejemplo,
supongamos que se quiere calcular la CO de un plan de muestreo en el que se
toman muestrasde 50 unidades y se rechaza si hay más de un elemento no
conforme en la muestra. Se supone un muestreo lote a lote. En este caso
resulta aplicable la distribución binomial,
Luego la ecuación de...