Optoelectronica
3HGUR &DVWULOOR 5RPyQ 8QLYHUVLGDG GH 9DOODGROLG 9DOODGROLG HQHUR GH
¢ 3RU TXp 2372"
326,%,/,'$'(6 '( /$ /8= Rapidez ( 3·108 m/s ) Inmune a perturbaciones Detección a distancia Posibilidad de enfoque Formación de imágenes Visible para 0.4 - 0.7 µm Variedad de λ Interacción selectiva Energía solar • • • • • • • • •
$3/,&$&,21(6
•Comunicación óptica • Almacenamiento óptico • Vídeo y fotografía • Visualizadores • Instrumentación y control • Investigación • Visión nocturna • Sensores • Procesado, impresión,… • Generación fotovoltaica
Modificación de materiales •
/RQJLWXGHV GH RQGD GH LQWHUpV
VHQVRUHV \ SURFHVDGR YLVLEOH FRPXQLFDFLyQ 89
SiC GaP
,5 WpUPLFR
1,5
GaAs Si
λ (µm)
0,5
Ge
hν(eV) Eg (eV)
⇒ Visible y NIR ≈ Eg de los semiconductores
6HPLFRQGXFWRUHV
LQWHUDFFLyQ FRQ OD OX] Generación e- h ⇒ detección
%& IRWyQ Kν !(J %9 , HOHFWUyQ Kν KXHFR (J
Recombinación ⇒ emisión
%& HOHFWUyQ IRWyQ (J Kν (J %9 KXHFR
¢ 3RU TXp HOHFWUyQLFD "
• Bajo coste • Pequeño tamaño • Fiabilidad
Prestaciones:
• Rapidez eléctrica • Bajo consumo
Aplicaciónes:“electrónicas” o específicas
*XLyQ
0RWLYDFLyQ ,QWURGXFFLyQ 4Xp VHPLFRQGXFWRUHV XWLOL]DPRV
• /RV /(' ORV HPLVRUHV PiV VHQFLOORV • /RV GLRGRV OiVHU \ VXV DSOLFDFLRQHV • )RWRGHWHFWRUHV receptores, lectores y sensores • &iPDUDV GLJLWDOHV 3HUVSHFWLYDV \ FRQFOXVLRQHV
$EVRUFLyQ EDQGD D EDQGD
3DUD Kν ! (J ⇒ DEVRUFLRQ GH OD OX] ⇒ DWHQXDFLyQ : φ(x) = φ(0)·exp(-αx) α = coef. de absorción; L = 1/αsemicond. directos
semicond. indirectos
PX\ SUREDEOH / ≈µP • «3HUR HQ DPERV FDVRV RFXUUH
SRFR SUREDEOH / ≈ µP
• (O VLOLFLR YDOH SDUD λ µP • /R LPSRUWDQWH HV TXH λ(J • 3DUD \ µP *H R *D,Q$V
(PLVLyQ GH OX]
semiconductores directos semiconductores indirectos
Recomb. radiativa probable SRVLEOH HPLVLyQ
VHPLF *H 6L ,Q$V ,Q3 *D$V *D3 $O$V (J H9 , , ' ' ' ,
,
Recomb. no radiativa QR HPLVLyQ
¢4Xp VHPLFRQGXFWRU " • directo ⇒ semic. III-V (difícil para λ «) ⇒ un semic. para cada λ • Eg ≈ h ν • λ’s intermedia? ⇒ aleaciones • evitar R no radiativa ⇒ buena calidad
,9
,,,9
'LRGRV HPLVRUHV GH OX] /('V
/RV HPLVRUHV PiV VHQFLOORV
•Inyección de corriente •Recombinacion (b-b o d-b)
•Popt = η· IF&DUDFWHUtVWLFDV V) ∆λ ∝ kT Para b-b, λ ~ λg f ~ 1/τ Alta fiabilidad
ej.: GaAs
~ 1.2 V ~ 30 nm 0.9µm < 100 MHz
/(' GH YLVLEOH
• 'LItFLO η grande y λ corta • 'HVHDEOH SDUD ↑ YLVLELOLGDG ↑ FRORUHV • 5HVSXHVWD YLVXDO
/(' GH YLVLEOH
PDWHULDO *D$V *D$V3 *D3 =Q2 *D3 1 *D$V3 1 $O*D$V $O*D,Q3 *D,Q1 *D,Q1 WLSR ' ' , LPS , LPS , LPS ' ' 'LPS 'LPS
J J K K K J J J J
VXEVWU FRORULm/W
100
J L J J L J J L L
IR
10
1
blanco
70
80
90
año
$SOLFDFLRQHV GH ORV /(' GH YLVLEOH
Coste de operación incandescente instalación
/('
3 - 5 años tiempo
/(' GH LQIUDUURMR ,5('
• *D$V µP ∼ 0+] • $O[*D[$V*D$V µP ∼ 0+] • *D,Q$V3,Q3 FRPySWLFDV ∼ 0+]
Ec
Ev AlGaAs GaAs AlGaAs
,QWURGXFFLyQ • /RV /(' ORV HPLVRUHV PiVVHQFLOORV • /RV GLRGRV OiVHU \ VXV DSOLFDFLRQHV ,5 FHUFDQR &'V \ OiVHUHV GH SRWHQFLD 9LVLEOH '9'V \ OiVHUHV GH QLWUXURV &RPXQLFDFLyQ SRU ILEUD ySWLFD :'0 PXOWLSOLFDQGR OD FDSDFLGDG GH OD ILEUD 0LFURySWLFD \ ODVHUHV GH FDYLGDG YHUWLFDO • )RWRGHWHFWRUHV • &iPDUDV GLJLWDOHV 3HUVSHFWLYDV \ FRQFOXVLRQHV
(Q TXp VH EDVD HO OiVHU
(PLVLyQ HVWLPXODGD • amplificación de luz • coherencia • t < tespontaneo
( )RWyQ Kν (( (
%& HOHFWUyQ
Kν Kν
%9
,QYHUVLyQ GH SREODFLyQ • absorcion < em. estim. • requiere bombear electrones
( )RWyQ Kν (( (
%& HOHFWUyQ
Kν Kν
%9
4Xp HV XQ OiVHU
$PSOLILFDGRU ySWLFR FRKHUHQWH
FRQ UHDOLPHQWDFLyQ ySWLFD • cavidad resonante • inyección umbral (inversión umbral)
'LRGRV OiVHU Funcionamiento
• &RUULHQWH XPEUDO • (ILFLHQFLD •...
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