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Páginas: 5 (1233 palabras) Publicado: 21 de marzo de 2014
La microscopía electrónica de barrido y de transmisión es utilizada como una de las técnicas más versátiles en el estudio y análisis de las características microestructurales de objetos sólidos. Estas técnicas nos permiten observar muestras relacionadas con el campo de la ciencia de materiales y de materiales biológicos. Otra característica importante de microscopía electrónica de barrido(SEM) es que podemos observar muestras en tres dimensiones en contraste con la microscopía electrónica de transmisión (TEM) en donde las muestras son observadas en dos dimensiones, lo cual representa una pérdida en información relacionada con el espesor. Además de que para ésta ultima técnica la preparación de la muestra debe ser lo suficientemente delgada como para ser transparente al haz deelectrones.
La versatilidad de la microscopía electrónica de barrido respecto a transmisión se deriva en gran medida de la gran variedad de interacciones que sufre el haz de electrones en el espécimen y la preparación. Las interacciones pueden dar información sobre la composición del espécimen, topografía, cristalografía, potencial eléctrico, campo magnético local, etc

Microscopio Electrónicode Transmisión de Alta Resolución, HRTEM Jeol 2100F
Utilizando como fuente de iluminación un emisor de campo y 200kV de aceleración, este microscopio alcanza una resolución de 1.86 Å en modo TEM. Además cuenta con unidad de STEM para hacer µ-µdifracción y combinándolo con el modo imagen se tiene información estructural de la muestra, además cuenta con un detector de EDS (energy dispersive X-ray)para análisis elemental, también el detector de HAADF (high angle anular dark field) para obtener imágenes de contraste Z y obtener imágenes por densidad de peso atómico y finalmente cuenta con un prisma electromagnético de EELS (energy electron loss spectra) que permite tanto observar imágenes como adquirir el espectro con filtrado por pérdida de energía de elementos de bajo número atómico.Además de lo anteriormente descrito se cuentan con dos porta muestras, uno de calentamiento hasta 800°C y otro de enfriamiento que puede alcanzar una temperatura de -160°C. Teniendo la oportunidad de grabar en video las trasformaciones de fase por temperatura in situ, o más allá para materiales que solamente a bajas temperaturas son sólidas y tener así el ambiente para poder observarlas.

Parala adquisición de imágenes el microscopio cuenta una CCD postcolumna de 11 MPixeles y una CCD lateral de amplio rango dinámico que permite específicamente la adquisición de patrones de difracción sin riesgo de daño en el sensor, su resolución es de 4 MPixeles.

Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución, HRSEM Jeol 7600F.
Con 30 kV de aceleración y con una fuente de emisión decampo, un generador de barrido de 5120x3840 pixeles y un sistema de alto vacío . Puede alcanzar una resolución de 1nm . Además, tiene la posibilidad de variar el voltaje y poder obtener imágenes incluso con 100V con una resolución de 1.5nm, lo cual puede ser importante para muestras biológicas o algunos polímeros. También cuenta con análisis de elementos presentes en la muestra (EDS), en modopuntual lineal y mapeo. Incluye además un detector de electrones retrodispersos retráctil con el que es posible realizar la mezcla de la señal de electrones secundarios y retrodispersos en la imagen.
OTRA VERSION
El microscopio electrónico de transmisión es un instrumento que utiliza como fuente de iluminación un haz de electrones que son generados por un filamento de tungsteno cuando este porefecto termoiónico se pone incandescente. Estos electrones son acelerados y dirigidos hacia la muestra mediante lentes electromagnéticas en condiciones de alto vacío.
Con el fin de observar la muestra en el microscopio electrónico de transmisión hay que prepararla previamente según métodos específicos de fijación, inclusión ultramicrotomía, o crioultramicrotomía. La imagen que se obtiene es plana y...
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