Plan de inspección por atributos

Plan de Inspección por Atributos

Ejercicio 1

Hallar el plan de muestreo para

N= 5000
Nivel de inspección II
AQL = 0,4 %
Inspección Normal
Plan de muestreo Doble.

Ejercicio 2Utilizando la norma IRAM 15, determinar el plan de muestreo a utilizar para:
Lotes de 3000 unidades, AQL= 0,10 %, Inspección normal, nivel I de inspección.

Ejercicio 3

Utilizando la normaIram 15 determinar el plan de muestreo a utilizar para lotes de 4000 unidades, AQL= 25 DCL

Ejercicio 4

Una empresa recibe un lote aislado de material y desea elegir un plan de muestreo masapropiado para inspeccionar el mismo, tomando en cuenta que si el lote tiene un 6% de defectuosos, su probabilidad de aceptación debería ser menor o igual a 10 %
El AQL definido es de 1,5 %Ejercicio 5

Una empresa adquiere transistores FET en lotes de tamaño N = 600.
Considerar inicialmente un nivel de inspección normal (Nivel II), con una calidad aceptable (AQL) establecida por elfabricante de 1,5 %.
Basarse en la norma MIL-STD-105E (IRAM 15):
1. Determinar el Plan de Muestreo Simple para el Control de Recepción, hallando tamaño de muestra (n), nº aceptación (Ac) y nº rechazo (Re).2.- Determinar el % de unidades defectuosas toleradas por la empresa (LTPD o LQ), para una probabilidad de aceptación (Pa) mayor de 10%.
3.- Graficar la Curva Característica (OC) del plande muestreo determinado, identificando los valores hallados.
4.- Graficar la Curva Característica (OC) ideal considerando una inspección 100%.
5.- Explicar qué sucede si se detectan4 unidades defectuosas.
6.- Suponiendo que se rechazaron 2 lotes de 5 consecutivos. Determinar el nuevo Plan de Muestreo.
7.- Determinar el Plan de Muestreo Doble,explicando en qué casos de acepta o rechaza el lote.
Considerar un nivel de inspección normal (Nivel II). Para todos los puntos, explicar qué tablas se utilizaron de la norma.
Ejercicio 6

Ud....