Plan de Muestreo por Atributos, NCh 44:2007

Muestreo para la
inspección por
atributos
NCh 44.Of2007

Marianela Torrejón
Septiembre 2011

Definición de muestreo por
atributos
El método o inspección por atributos
consiste en examinar una unidad de
producto o característica y clasificarla como
“buena” o “defectuosa”.
La acción a tomar después de esto se decide
contando el número de defectuosas
encontradas.

Objetivo delmétodo de
muestreo
• El objetivo de la inspección para la
aceptación es la de decidir si un lote
de producto debe o no ser aceptado,
habiéndose fijado de antemano las
características que definan el plan de
muestreo (nivel de calidad aceptable,
la calidad límite y los riesgos del
productor/consumidor)

¿Qué es un defecto?
Es cualquier discrepancia o
inconformidad del producto conrespecto a requisitos especificados

Unidad defectuosa o defectivo:
Es una unidad con uno o más defectos

a) El porcentaje de defectuosos supone
que si un artículo es totalmente
defectuoso, el número de defectos no
tiene importancia.
b) Se considera que los defectos son
independientes pero puede suceder
que estén correlacionados positiva o
negativamente entre dos defectos
cualquiera.
c)Es preferible mantener registros de
todos los defectos posibles

Clasificación de defectos
• Mayores: Vuelven inútil el artículo
• Menores: Hacen el artículo menos útil
de lo que debería ser pero no
necesariamente inútil.
• Crítico: Vuelven al artículo no
solamente inútil sino peligroso.

Planes de muestreo
• Un plan de muestreo significa reglas
particulares por medio de las cualesun lote
se va a inspeccionar y a dictaminar:
EJEMPLO:
Muestreo sencillo
Tamaño de la muestra:
Número de aceptación:
Número de rechazo:

125
5 defectivos
6 defectivos

Nivel de calidad aceptable
(NCA)
(AQL por sus siglas en inglés)
Es el máximo porcentaje defectivo (unidades o
defectos) que para propósitos de inspección, puede
considerarse satisfactorio como una calidad
promediodel proceso
Si la calidad promedio que está siendo producida es
tan buena o por lo menos como el NCA, el producto
puede ser considerado como satisfactorio.

Plan de muestreo sencillo
Depende de los siguientes parámetros:
– Tamaño de muestra
– No. de aceptación
– No. de rechazo

Planes de muestreo doble
Es un sistema en el cual se toma una primera
muestra que es menor que la podríaser tomada para
un muestreo sencillo.
Si la calidad de la primera muestra es
suficientemente buena o suficientemente mala el
lote puede ser aceptado o rechazado
inmediatamente.
Solamente en el caso intermedio se toma una
segunda muestra y se examina para decidir si se
acepta o se rechaza el lote.

Ejemplo de plan de muestreo
Doble
•
•
•
•
•
•
•

Primera muestra:
125
Número deaceptación: 1 defectivo
Número de rechazo:
4 defectivos
Segundo tamaño de muestra:
125
Tamaño de muestra combinada:250
Número de aceptación: 4 defectivos
Número de rechazo:
5 defectivos

Muestreo Múltiple
• Se usa el mismo principio que en
muestreo doble excepto que pueden
necesitarse más de dos muestras
Una forma particular de muestreo
múltiple es conocida como muestreosecuencial.

Comparación entre tipos de
muestreo
a)
b)
c)
d)
e)

Simplicidad
Tamaño promedio de muestra
Variabilidad en el tamaño de la muestra.
Facilidad de extraer unidades de muestra
Duración de la prueba

Nivel de inspección
• Define la relación del tamaño del lote y el
tamaño de la muestra.
tamaño de lote grande
tamaño de muestra mayor
(no en proporción directa)

• Existentres niveles generales: I, II, III
Nivel II será utilizado a menos que se indique otro nivel.
Nivel I se usa cuando se requiere menos desecho y nivel III cuando
se puede desechar una mayor cantidad.

• Cuatro niveles especiales S1,S2, S3 Y S4
(Objetivo de niveles especiales es que el tamaño de muestra sea
pequeño cuando es realmente necesario)

Extracción de la muestra
Se requiere un...