Planes De Muestreo

1. Planes de muestreo

* De muestreo por atributo: Se extrae aleatoriamente una muestra de un lote, y cada pieza de la muestra es clasificada de acuerdo con ciertos atributos como aceptable odefectuosa. Si el número de piezas defectuosas es menor o igual que un cierto número predefinido, entonces el lote es aceptado, en caso de que sea mayor, el lote es rechazado. Algunos planes poratributos son: simple, doble y múltiple.

* De muestreo simple: Es la técnica más sencilla para determinar la aceptación de un lote, donde éste se somete a una muestra única. Si consideramos un lote detamaño N y tomamos una muestra de tamaño n y se define un número de aceptación c (ambos fijados de antemano), el lote se acepta si la muestra tiene un número de unidades defectuosas X menor o iguala c. Si esta condición no se cumple, entonces el lote se rechaza.

Diagrama del proceso de muestreo simple
Ejemplo: Consideremos un lote de tamaño de 1.000 unidades sobre el cual queremos realizar unmuestreo simple tomando una muestra de tamaño 80 unidades y definiendo como número de aceptación 4 unidades, es decir, se aceptará el lote completo si de la muestra se obtiene un máximo de 4 unidadesdefectuosas.

* De muestreo doble: Se toma una primera muestra, de tamaño más pequeño que en el plan simple, para detectar los lotes muy buenos o los muy malos, y si en la primera muestra no sepuede decidir si aceptar o rechazar por que la cantidad de unidades defectuosas ni es muy pequeña ni es muy grande, entonces se toma una segunda muestra para decidir si aceptar orechazar tomando en cuenta las unidades defectuosas encontradas en las dos muestras. De esta manera, un plan de muestreo doble está definido por:
N = tamaño de lote
n1 = tamaño de la primera muestra
c1 = número deaceptación para la primera muestra
n2 = tamaño de la segunda muestra
c2 = número de aceptación para las dos muestra

Ejemplo: Un plan N = 3000, n1 = 80, c1 = 1, n2 = 80, c2 = 4; del lote de 3000...