Pr Ctica Muestreo De Se Al


Instituto Tecnológico de Querétaro
Departamento de Ingeniería Eléctrica
y Electrónica




Guía de Prácticas de Laboratorio

Materia:Dinámica de Sistemas

Laboratorio de Ingeniería ElectrónicaElaboró
M. en C. Sinhué Moisés González





Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Av. Tecnológico S/N, Esq. M. Escobedo, Col. Centro,
CP.76000 Tel: 2274400 ext. 4418


INSTITUTOTECNOLÓGICO DE QUERÉTARO
INGENIERÍA ELECTRÓNICA
MATERIA: DINÁMICA DE SISTEMAS
CLAVE DE LA MATERIA:MTF-1009
PRÁCTICA No. 8

PRÁCTICA No.8. MUESTREO DE UNA SEÑAL.
ALUMNOS:
-Ávila Ramírez Luis Alfonso
-Luna OsorioAsher Yoav
-Zea Guzmán Isaac



1. OBJETIVO

Adquirir muestrear señal..
2. EQUIPO Y MATERIALES

JFET (2N5458)
Resistencias 1KΩ
Capacitor (10 µF)
Dos amplificadores operacionales (TL084)
Osciloscopio3. MARCO TEÓRICO

Los dispositivos de muestreo y retención (S/H) proveen una función de memoria de señales análogas para uso en sistemas de muestreo de datos.

El dispositivo mostrado presentauna impedancia de entrada elevada. La realimentación de la salida a la entrada minimiza el error de transferencia de la señal cuando el dispositivo está en modo seguimiento (muestreo o tracking).


1.METODOLOGÍA

Arme el circuito de la figura para poder muestrear una señal



Para el muestreo utilice un FET

Tome fotos de la señal ó copie la señal del osciloscopio













CONCLUSIONES

LuisAlfonso
Se observa la salida de dos señales que fueron ingresadas por dos generadores de funciones, estas dos señales se introdujeron ciertos OPAM las cuales se pudo determinar las dos salidas y lacombinación que se formo, como tal la práctica se pudo visualizar el muestreo que se tomo de estas dos señales.

Asher
Durante el desarrollo de esta práctica se pudo obtener las muestras de una señal enun intervalo constante de tiempo esto es importante ya que estas muestras se pueden utilizar para otro tipo de aplicaciones donde se necesite sacar una o varias muestras de alguna señal para poder...