practica 3 Campos y ondas


INSTITUTO POLITECNICO NACIONAL

ESCUELA SUPERIOR DE INGENIERIA MECANICA ELECTRICA
Ingeniería en Comunicaciones y Electrónica

Campos y Ondas Electromagnéticas

La O.E.M. y los Obstáculos deMateriales Compactos
Practica 3


Flores de la Vega Chong Daniel
Prof.: Zavala Romero Eduardo Angel

07/05/15
Grupo: 3CV7


I- Indice


II- Introduccion 3-5


III- Material y Desarrollo 6


IV-Resultados 7


V- Concluciones 8


Introducción:

Virtualemente, la ionosfera no afecta a las frecuencias mayores que las UHF, porque las ondas son extremadamente cortas. Las distancias entre iones sonbastante mayores que las longitudes de onda de estas frecuencias, y en consecuencias, las ondas electromagnéticas pasan a través de ellas con pocos efectos notables. Por consiguitens es razonable quehaya un limite superior de frecuencias que se propague como ondas celestes. La frecuencia critica (fc) se define como la máxima frecuencia que se puede propagar directo hacia arriba y es reflejada porla ionosfera hacia la tierral Esta frecuencia depende de la densidad de ionificacion y, en consecuencia, aria con la hora del dia y con la estación. Disminuye el angulo vertica de irradiación, lasfrecuncias iguales o mayores que la critica se puede refrelajr hacia la superficie terrestre porque recorre mayor distancia en la ionosfera y por esto tiene mayor tiempo de refractarse.
La distancia desalto es la distancia minima desde la antena de transmicion a la que regresara a la tierra una onda celeste de determinada frecuencia.
Cuando una onda EM se propaga, no en el vacio, sino en un mediomaterial cualquiera, la velocidad de propagación no es la misma, además de que tiene lugar otros fenómenos importantes que conviente estudiar, tales como dispersión, reflrexion refracción yabsorción.
Los parámetros E,u y σ, dependen de la frecuencia de los campos armónicos. Cuando una onda no es armonica, como por ejemplo, un pulso o tren de ondas, en realidad contiene muchas frecuencias...