Preinforme 4 Laboratorio De Física III

DIFRACCIÓN DE LA LUZ

















WILLIAM ANDRÉS GUZMÁN MORALES

GRUPO 19 – SUBGRUPO 3











UNIVERSIDAD TENCOLÓGICA DE PEREIRA
FACULTAD DE CIENCIAS BÁSICAS
LABORATORIO DE FÍSICA III
PEREIRA
2015
PREINFORME DE LABORATORIO



WILLIAM ANDRÉS GUZMÁN MORALES












PREINFORME - LABORATORIO DE FÍSICA III









ERIKA MARIANA HOLGUIN GALLEGO







UNIVERSIDAD TENCOLÓGICA DE PEREIRAFACULTAD DE CIENCIAS BÁSICAS
LABORATORIO DE FÍSICA III
PEREIRA
2015
PREINFORME DE LABORATORIO





1. Objetivos:

1. Estudiar el patrón de difracción dado por rendijas rectangulares sencillas, dobles y múltiples
2. Medir las constantes correspondientes en cada caso.


2. Preguntas

Pregunta 1
¿En qué consiste el fenómeno de difracción de la luz?

Respuesta
La difracción es un fenómeno característicode las ondas que se basa en la desviación de estas al encontrar un obstáculo o al atravesar una rendija. La difracción ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la superficie de un fluido y ondas electromagnéticas como la luz visible y las ondas de radio. También sucede cuando un grupo de ondas de tamaño finito se propaga; por ejemplo, por causa de la difracción.
La difracciónpuede ser entendida a nivel fenomenológico usando el principio de Huygens, según el cual un frente de onda se puede visualizar como una sucesión de emisores puntuales, que reemiten la onda al oscilar en respuesta a ella y contribuyen así a su propagación.
Los efectos de la difracción pueden predecirse matemáticamente usando dos aproximaciones distintas. La difracción de Fraunhoferpermite estimar elcomportamiento del fenómeno producido por un obstáculo situado a una distancia lo suficientemente alejada de la zona de estudio.
La Difracción y la interferencia son fenómenos inseparables, al punto que no es siempre sencillo distinguirlos. Esto es debido a que la difracción es una forma particular de interferencia.

Pregunta 2
¿Qué condiciones debe cumplir una fuente de luz para que produzca unpatrón de difracción observable?

Respuesta
Las dimensiones del orificio (D) que difracta la onda, debe tener una dimensión mayor que la longitud de onda (λ) de la luz que lo atraviesa. Sí D>λ hay difracción
Si D<λ El orificio emite ondas esféricas y no hay difracción. El patrón de difracción será claramente visible usando luz de una sola longitud de onda (luz monocromática), de lo contrario, seobservará una superposición de colores. 


Pregunta 3.
¿Cuáles son las fórmulas que definen la posición de los máximos y los mínimos en un patrón de difracción?

Respuesta

ASen(z) = Mλ

Donde:
Λ=Longitud de onda de la luz incidente
A=Separación entre franjas.
Z=Ángulo de salida
M=Número del máximo a calcular.


3. Materiales

Láser de Estado sólido λ = 670 x 10^(−9)m.
Rendijasrectangulares sencillas.
Rendijas rectangulares dobles y múltiples.
Xplorer GLX.
Sensor de luz.
Banco óptico.
Sensor de traslación.
Rejilla colimadora.



4. Precauciones

En todas sus mediciones y cálculos debe tener en cuenta la incertidumbre en la medición.
Manipular las rendijas con sumo cuidado y sólo girando la rueda selectora. No tocar las rendijas directamente.


5. Procedimiento

Difracción poruna rendija rectangular:
Colocar el accesorio de rejillas simples en el banco óptico, sujetar lateralmente y hacer poca presión para que se acople al banco. No forzar el accesorio pues se puede quebrar. Situarlo a 1.00 m de distancia del sensor de luz. Encender el diodo láser y asegurarse de que la luz incida sobre la primera y más estrecha de las rejillas rectangulares. Asegurarse que el colimadorsituado en frente del sensor de luz esté colocado correctamente. Debe estar en la abertura más estrecha (0.1 mm) para minimizar la luz ambiental incidente sobre el sensor. Conectar el Xplorer a los sensores de luz y traslación. Asegurarse del correcto posicionamiento del sensor de traslación. Encender el Xplorer inicialmente se mostrará una lista de sensores a escoger; buscar y seleccionar la...