proyecto de investigacic3b3n de afm

PROYECTO DE INVESTIGACIÓN

MICROSCOPIA DE FUERZA ATÓMICA(AFM)

-cristian emmanuel saavedra flores
-ingenieria metalurgica
-soquert@hotmail.com


DESCRIPCION DEL PROYECTO

1.1.-MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA

1.2.-PLANTEAMIENTO DEL PROBLEMA
Uso de la microscopia de fuerza atomica(afm),tecnica utilizada durante el proceso,caracteristicas fisicas,modo de trabajo, modo de operación,tipos de medidarealizados,restricciones y observaciones de su uso.

1.3.-OBJETIVOS GENERALES Y ESPECIFICOS
El objetivo principal biene hacer :dar a conocer que es la microscopia de fuerza atomica(afm), asi como el uso adecuado de este, tambien modos de operación ,tipos de medida ,modo de trabajo,tecnicas ,etc.



1.4.-IMPORTANCIA DEL PROYECTO
Conocer el uso adecuado de la microscopia de fuerzaatomica(AFM).tener el conocimiento base de su proceso ,uso y forma debida en la cual se utiliza.
para luego en cualquier ocacion inprevista ,aportar con cierto conocimiento base de nosotros.
HIPOTESIS.-la microscopia de fuerza atomica(afm) es igual en cuanto a propiedades a los microscopios opticos,electronicos,etc.

1.5.-ANTECEDENTES
El Microscopio electrónico de transmisión
El Microscopio electrónico debarrido
El microscopio de efecto túnel (STM)

1.6.-MARCO TEORICO CONCEPTUAL
-Investigaciones relacionadas con el proyecto
Microscopio óptico
El microscopio óptico es una herramienta muy útil para obtener imágenes de muestras orgánicas e inorgánicas, pero está limitado para una resolución de 1mm a 1 micra.2
Microscopio electrónico
El microscopio electrónico tiene una resolución entre 1mm y 1nm. Es,por lo tanto, idóneo para la determinación de estructuras a nivel molecular y atómico. La resolución no está limitada por la difracción, pero sí por las lentes. El microscopio de campo cercano tiene una resolución todavía mayor: entre 1µm y 1Å.3




TEM
El Microscopio electrónico de transmisión, tiene las siguientes características que lo hacen muy útil:
Resolución atómica.
Puede determinarseestructuras en 2 dimensiones.
Interacción electrones a electrones.
SEM
El Microscopio electrónico de barrido tiene las siguientes características:
Resolución atómica.
Requiere vacío.
Debe cubrirse a menudo el espécimen.
Permite características superficiales.
STM
El microscopio de efecto túnel (STM) es un instrumento que permite visualizar regiones de alta o baja densidad electrónica superficial, yde ahí inferir la posición de átomos individuales o moléculas en la superficie de una red. La "observación" atómica se ha vuelto una tarea común en muchos laboratorios debido al bajo costo de este tipo de microscopía en comparación con la microscopía electrónica.4
Las técnicas de microscopía de barrido por sondeo (SPM: Scanning probing microscopy) que incluyen al STM y al AFM se utilizan en áreasde la ciencia que van desde la biología hasta la física del estado sólido.

-BASES TEÓRICAS CIENTIFICAS
En el microscopio de fuerza atómica (AFM), una punta afilada situada en el extremo de una palanca flexible recorre la superficie de una muestra manteniendo constante una pequeña fuerza de interacción. El movimiento de barrido lo realiza un escaner piezo-eléctrico, y la interacciónpunta/muestra se monitoriza reflejando un láser en la parte trasera de la palanca, que se recoge en un detector fotodiodo. El fotodiodo esta dividido en 4 segmentos, y las diferencias de voltaje entre los distintos segmentos (generalmente los 2 superiores respecto de los 2 inferiores) determinan con precisión los cambios en la inclinación o amplitud de oscilación de la punta.





1.7.-METODOLOGIA
-TECNICASE INSTRUMENTOS DE RECOLECCION DE DATOS
-PROCEDIMIENTO DE RECOLECCION DE DATOS
-PROCESAMIENTO Y ANALIZIS DE DATOS

-INTRODUCCION BREVE

Desde su aparición en los 80's, el microscopio de fuerza atómica (AFM), ha sido un equipo importante para la elucidación de la microestructura de materiales. basado en la interacción local entre la punta y la superficie de una muestra, proporciona imágenes...